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  • 北京中其伟业科技有限公司

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  • 深圳市澳亿芯电子

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  • 深圳市华来深电子有限公司

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产品型号FDS6673BZ的概述

芯片FDS6673BZ的概述 FDS6673BZ是一款高性能的N通道功率MOSFET,属于Fairchild Semiconductor(现为ON Semiconductor)的产品线。作为一款低电压、高效率的开关元件,该芯片广泛应用于各种电子设备中,特别是在电源管理、DC-DC转换器、马达驱动等领域。其设计旨在实现较低的导通电阻和优化的开关性能,从而提高系统的整体效率。 芯片FDS6673BZ的详细参数 在特性参数方面,FDS6673BZ具有以下优势: - 最大漏极-源电压(V_DSS):30V,意味着该芯片可以在不发生击穿的情况下承受最多30伏的电压。 - 最大连续漏极电流(I_D):60A,能够支持高功率的负载运行。 - 导通电阻(R_DS(on)):在相应的栅极驱动电压下,导通电阻小于10mΩ,确保较低的功率损耗。 - 栅极驱动电压范围(V_GS):±20V,可适应各种控制信号...

产品型号FDS6673BZ的Datasheet PDF文件预览

January 2006  
FDS6673BZ  
P-Channel PowerTrench® MOSFET  
-30V, -14.5A, 7.8mΩ  
General Description  
Features  
This P-Channel MOSFET is produced using Fairchild  
Semiconductor’s advanced Power Trench process that  
has been especially tailored to minimize the on-state  
resistance.  
„ Max rDS(on) = 7.8mΩ, VGS = -10V, ID = -14.5A  
„ Max rDS(on) = 12mΩ, VGS = -4.5V, ID = -12A  
„ Extended VGS range (-25V) for battery applications  
„ HBM ESD protection level of 6.5kV typical (note 3)  
This device is well suited for Power Management and  
load switching applications common in Notebook  
Computers and Portable Battery Packs.  
„ High performance trench technology for extremely low  
rDS(on)  
„ High power and current handling capability  
„ RoHS compliant  
D
D
D
5
6
7
8
4
3
2
1
D
G
S
S
SO-8  
S
MOSFET Maximum Ratings TA = 25°C unless otherwise noted  
Symbol  
VDS  
VGS  
Parameter  
Ratings  
Units  
Drain to Source Voltage  
Gate to Source Voltage  
Drain Current -Continuous  
-Pulsed  
-30  
±25  
V
V
A
A
(Note1a)  
-14.5  
-75  
ID  
Power Dissipation for Single Operation  
(Note1a)  
(Note1b)  
(Note1c)  
2.5  
PD  
1.2  
W
1.0  
TJ, TSTG  
Operating and Storage Temperature  
-55 to 150  
°C  
Thermal Characteristics  
RθJA  
RθJC  
Thermal Resistance , Junction to Ambient (Note 1a)  
50  
25  
°C/W  
°C/W  
Thermal Resistance , Junction to Case (Note 1)  
Package Marking and Ordering Information  
Device Marking  
Device  
Reel Size  
Tape Width  
12mm  
Quantity  
FDS6673BZ  
FDS6673BZ  
13’’  
2500 units  
©2006 Fairchild Semiconductor Corporation  
FDS6673BZ Rev. B  
1
www.fairchildsemi.com  
Electrical Characteristics TJ = 25°C unless otherwise noted  
Symbol  
Parameter  
Test Conditions  
Min  
Typ  
Max  
Units  
Off Characteristics  
BVDSS  
Drain to Source Breakdown Voltage  
ID = -250µA, VGS = 0V  
-30  
V
BVDSS  
TJ  
Breakdown Voltage Temperature  
Coefficient  
ID = -250µA, referenced to  
25°C  
-20  
mV/°C  
IDSS  
IGSS  
Zero Gate Voltage Drain Current  
Gate to Source Leakage Current  
VDS = -24V, VGS = 0V  
VGS = ±25V, VDS = 0V  
-1  
µA  
µA  
±10  
On Characteristics (Note 2)  
VGS(th)  
Gate to Source Threshold Voltage  
VGS = VDS, ID = -250µA  
-1  
-1.9  
8.1  
-3  
V
VGS(th)  
TJ  
Gate to Source Threshold Voltage  
Temperature Coefficient  
ID = -250µA, referenced to  
25°C  
mV/°C  
VGS = -10V , ID = -14.5A  
VGS = -4.5V, ID = -12A  
6.5  
9.6  
7.8  
12  
rDS(on)  
Drain to Source On Resistance  
mΩ  
VGS = -10V, ID = -14.5A  
TJ = 125oC  
9.7  
60  
12  
gFS  
Forward Transconductance  
VDS = -5V, ID = -14.5A  
S
Dynamic Characteristics  
Ciss  
Coss  
Crss  
Input Capacitance  
3500  
600  
4700  
800  
pF  
pF  
pF  
VDS = -15V, VGS = 0V,  
f = 1.0MHz  
Output Capacitance  
Reverse Transfer Capacitance  
600  
900  
Switching Characteristics (Note 2)  
td(on)  
tr  
td(off)  
tf  
Turn-On Delay Time  
Rise Time  
14  
26  
29  
ns  
ns  
VDD = -15V, ID = -1A  
VGS = -10V, RGS = 6Ω  
16  
Turn-Off Delay Time  
Fall Time  
225  
105  
36  
ns  
167  
ns  
VDS = -15V, VGS = -10V,  
ID = -14.5A  
Qg  
Total Gate Charge  
88  
124  
65  
nC  
Qg  
Total Gate Charge  
46  
8
nC  
nC  
nC  
VDS = -15V, VGS = -5V,  
ID = -14.5A  
Qgs  
Qgd  
Gate to Source Gate Charge  
Gate to Drain Charge  
23.5  
Drain-Source Diode Characteristics  
VSD  
trr  
Source to Drain Diode Forward Voltage VGS = 0V, IS = -2.1A  
-0.7  
-1.2  
45  
V
Reverse Recovery Time  
Reverse Recovery Charge  
IF = 14.5A, di/dt = 100A/µs  
IF = 14.5A, di/dt = 100A/µs  
ns  
nC  
Qrr  
34  
Notes:  
1:  
R
is the sum of the junction-to-case and case-to-ambient thermal resistance where the case thermal reference is defined as the solder mounting surface of the  
θJA  
drain pins. R  
is guaranteed by design while R  
is determined by the user’s board design.  
θJC  
θCA  
o
o
o
a) 50 C/W (10 sec)  
when mounted on a 1 in  
pad of 2 oz copper  
b) 105 C/W when mounted  
c) 125 C/W when mounted  
2
2
on a .04 in pad of 2 oz  
copper  
on a minimun pad  
Scale 1 : 1 on letter size paper  
2: Pulse Test: Pulse Width < 300µs, Duty Cycle < 2.0%.  
3: The diode connected between the gate and source serves only as protection against ESD. No gate overvoltage rating is implied.  
2
www.fairchildsemi.com  
FDS6673BZ Rev. B  
Typical Characteristics TJ = 25°C unless otherwise noted  
4.0  
80  
70  
60  
50  
40  
30  
20  
10  
0
3.8  
3.6  
3.4  
3.2  
3.0  
2.8  
2.6  
2.4  
2.2  
2.0  
1.8  
1.6  
1.4  
1.2  
1.0  
0.8  
0.6  
PULSE DURATION = 80µs  
DUTY CYCLE = 0.5%MAX  
PULSE DURATION = 80µs  
DUTY CYCLE = 0.5%MAX  
VGS = -3.5V  
VGS = -4V  
VGS = -10V  
VGS = -5V  
VGS = -4V  
VGS = -4.5V  
VGS = -4.5V  
VGS = -3.5V  
VGS = -5V  
VGS = -3V  
VGS = -10V  
10  
20  
30  
40  
50  
60  
70  
80  
0
1
2
3
4
-VDS, DRAIN TO SOURCE VOLTAGE (V)  
-ID, DRAIN CURRENT(A)  
Figure 1. On Region Characteristics  
Figure 2. Normalized On-Resistance vs Drain  
Current and Gate Voltage  
25  
1.5  
ID = -14.5A  
GS = -10V  
PULSE DURATION = 80µs  
DUTY CYCLE = 0.5%MAX  
ID = -7A  
1.4  
1.3  
1.2  
1.1  
1.0  
0.9  
0.8  
0.7  
0.6  
V
20  
15  
10  
5
TJ = 150oC  
TJ = 25oC  
0
2
4
6
8
10  
-80  
-40  
0
40  
80  
120  
160  
TJ, JUNCTION TEMPERATURE (oC)  
-VGS, GATE TO SOURCE VOLTAGE (V)  
Figure 3. Normalized On Resistance vs Junction  
Temperature  
Figure 4. On-Resistance vs Gate to Source  
Voltage  
80  
1
00  
10  
1
PULSE DURATION = 80µs  
DUTY CYCLE = 0.5% MAX  
VGS = 0V  
VDS = -6V  
60  
TJ = 150oC  
TJ = 150oC  
40  
20  
0
TJ = 25oC  
TJ = 25oC  
TJ = -55oC  
0.1  
0.01  
1E-3  
TJ = -55oC  
3.5  
2.0  
2.5  
3.0  
4.0  
4.5  
0.0  
0.2  
0.4  
0.6  
0.8  
1.0  
1.2  
1.4  
-VSD, BODY DIODE FORWARD VOLTAGE (V)  
-VGS, GATE TO SOURCE VOLTAGE (V)  
Figure 5. Transfer Characteristics  
Figure 6. Source to Drain Diode Forward  
Voltage vs Source Current  
3
www.fairchildsemi.com  
FDS6673BZ Rev. B  
Typical Characteristics TJ = 25°C unless otherwise noted  
10  
8
6000  
Ciss  
Coss  
VDD = -10V  
VDD = -15V  
VDD = -20V  
6
1000  
Crss  
4
2
f = 1MHz  
VGS = 0V  
0
100  
0
20  
40  
60  
80  
100  
0.1  
1
10  
30  
-VDS, DRAIN TO SOURCE VOLTAGE (V)  
Qg, GATE CHARGE(nC)  
Figure 7. Gate Charge Characteristics  
Figure 8. Capacitance vs Drain to Source Voltage  
1000  
40  
100  
10  
TJ = 150oC  
10  
1
TJ = 25oC  
0.1  
TJ = 25oC  
TJ = 125oC  
0.01  
1E-3  
1E-4  
1
10-2  
10-1  
tAV, TIME IN AVALANCHE(ms)  
100  
101  
102  
103  
0
5
10  
15  
20  
25  
30  
35  
-VGS(V)  
Figure 9. Ig vs VGS  
Figure 10. Unclamped Inductive Switching  
Capability  
100  
16  
12  
8
10us  
10  
1
100us  
1ms  
VGS = -10V  
1ms  
100ms  
1s  
VGS = -4.5V  
0.1  
4
OPERATION IN THIS  
AREA MAY BE  
LIMITED BY rDS(on)  
SINGLE PULSE  
DC  
T =MAX RATED  
J
TA=25oC  
10  
0.01  
0
25  
0.1  
1
100  
50  
75  
100  
125  
oC  
150  
-VDS, DRAIN TO SOURCE VOLTAGE (V)  
TA, AMBIENT TEMPERATURE  
(
)
Figure 11. Maximum Continuous Drain Current vs  
Ambient Temperature  
Figure 12. Forward Bias Safe Operating Area  
4
www.fairchildsemi.com  
FDS6673BZ Rev. B  
Typical Characteristics TJ = 25°C unless otherwise noted  
1000  
o
T
= 25 C  
A
VGS = -10V  
FOR TEMPERATURES  
o
ABOVE 25 C DERATE PEAK  
CURRENT AS FOLLOWS:  
100  
150 T  
A
I = I  
25  
-----------------------  
125  
10  
SINGLE PULSE  
1
10-5  
10-4  
10-3  
10-2  
10-1  
100  
101  
102  
103  
t, PULSE WIDTH (s)  
Figure 13. Single Pulse Maximum Power Dissipation  
2
1
DUTY CYCLE-DESCENDING ORDER  
D = 0.5  
0.2  
0.1  
P
DM  
0.05  
0.02  
0.01  
0.1  
0.01  
1E-3  
t
1
t
2
NOTES:  
DUTY FACTOR: D = t /t  
SINGLE PULSE  
1
2
PEAK T = P  
x Z  
x R  
+ T  
J
DM  
θJA  
θJA A  
10-5  
10-4  
10-3  
10-2  
10-1  
100  
101  
102  
103  
t, RECTANGULAR PULSE DURATION(s)  
Figure 14. Transient Thermal Response Curve  
5
www.fairchildsemi.com  
FDS6673BZ Rev. B  
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FDS6673BZ产品参数
型号:FDS6673BZ
是否无铅: 不含铅
是否Rohs认证: 符合
生命周期:Active
零件包装代码:SOT
包装说明:ROHS COMPLIANT, SOP-8
针数:8
Reach Compliance Code:unknown
风险等级:5.18
Is Samacsys:N
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压:30 V
最大漏极电流 (ID):14.5 A
最大漏源导通电阻:0.0078 Ω
FET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
最大反馈电容 (Crss):900 pF
JESD-30 代码:R-PDSO-G8
JESD-609代码:e3
湿度敏感等级:1
元件数量:1
端子数量:8
工作模式:ENHANCEMENT MODE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度):260
极性/信道类型:P-CHANNEL
认证状态:COMMERCIAL
表面贴装:YES
端子面层:MATTE TIN
端子形式:GULL WING
端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:30
晶体管应用:SWITCHING
晶体管元件材料:SILICON
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