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  • 一站式BOM配单,短缺料找现货,怕受骗,就找昂富电子.
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  • 深圳市晶美隆科技有限公司

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  • 深圳市惊羽科技有限公司

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  • 深圳市华斯顿电子科技有限公司

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  • 深圳市华斯顿电子科技有限公司

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  • 厂家IR 
  • 封装SOP-8 
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  • 绝对原装正品全新进口深圳现货
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  • 全新原装公司现货销售
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  • 深圳市硅诺电子科技有限公司

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  • 绿盛电子(香港)有限公司

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  • ★一级代理原装现货,特价热卖!
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  • 深圳市英德州科技有限公司

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产品型号IRF7304TR的概述

芯片IRF7304TR的概述 IRF7304TR是一款高效能n沟道功率MOSFET,适用于各种电子电路应用,尤其是在开关电源、直流到直流转换器、和电机驱动等领域。这款MOSFET具有较低的导通电阻和较快的开关速度,使其在高频率和高功率的应用中表现出色。IRF7304TR凭借其优良的电气特性和可靠性,已成为电子工程师和设计师的常用器件之一。 芯片IRF7304TR的详细参数 IRF7304TR的主要电气参数如下: - 最大漏极-源极电压 (V_DS): 40V - 连续漏极电流 (I_D): 70A - 脉冲漏极电流 (I_D,pulse): 120A - 最大功耗 (P_D): 94W(在25°C时) - 漏极-源极击穿电压 (V(BR)DSS): ≥40V - 导通电阻 (R_DS(on)): 最大值为0.035Ω(在V_GS=10V时) - 栅极阈值电压 (V_GS(th)): 2...

产品型号IRF7304TR的Datasheet PDF文件预览

PD - 9.1240C  
IRF7304  
HEXFET® Power MOSFET  
Generation V Technology  
Ultra Low On-Resistance  
Dual P-Channel Mosfet  
Surface Mount  
Available in Tape & Reel  
Dynamic dv/dt Rating  
Fast Switching  
1
2
8
S 1  
G 1  
D 1  
D 1  
VDSS = -20V  
7
3
4
6
5
S 2  
G 2  
D 2  
D 2  
R
DS(on) = 0.090Ω  
Top View  
Description  
FifthGenerationHEXFETsfromInternationalRectifierutilizeadvancedprocessing  
techniques to achieve the lowest possible on-resistance per silicon area. This  
benefit, combinedwiththefastswitchingspeedandruggedizeddevicedesignthat  
HEXFET Power MOSFETs are well known for, provides the designer with an  
extremely efficient device for use in a wide variety of applications.  
The SO-8 has been modified through a customized leadframe for enhanced  
thermal characteristics and multiple-die capability making it ideal in a variety of  
power applications. With these improvements, multiple devices can be used in an  
application with dramatically reduced board space. The package is designed for  
vapor phase, infra red, or wave soldering techniques. Power dissipation of greater  
than 0.8W is possible in a typical PCB mount application.  
SO-8  
Absolute Maximum Ratings  
Parameter  
Max.  
Units  
ID @ TA = 25°C  
ID @ TA = 25°C  
ID @ TA = 70°C  
IDM  
10 Sec. Pulsed Drain Current, VGS @ -4.5V  
Continuous Drain Current, VGS @ -4.5V  
Continuous Drain Current, VGS @ -4.5V  
Pulsed Drain Current  
-4.7  
-4.3  
-3.4  
A
-17  
W
W/°C  
V
PD @TA = 25°C  
Power Dissipation  
2.0  
Linear Derating Factor  
0.016  
±12  
VGS  
Gate-to-Source Voltage  
dv/dt  
Peak Diode Recovery dv/dt  
-5.0  
V/ns  
°C  
TJ,TSTG  
Junction and Storage Temperature Range  
-55 to + 150  
Thermal Resistance Ratings  
Parameter  
Typ.  
Max.  
Units  
RθJA  
Maximum Junction-to-Ambient  
–––  
62.5  
°C/W  
8/25/97  
IRF7304  
Electrical Characteristics @ TJ = 25°C (unless otherwise specified)  
Parameter  
Min. Typ. Max. Units  
-20 ––– –––  
––– -0.012 ––– V/°C Reference to 25°C, ID = -1mA  
Conditions  
V(BR)DSS  
Drain-to-Source Breakdown Voltage  
V
VGS = 0V, ID = -250µA  
V(BR)DSS/TJ Breakdown Voltage Temp. Coefficient  
––– ––– 0.090  
––– ––– 0.140  
-0.70 ––– –––  
4.0 ––– –––  
––– ––– -1.0  
––– ––– -25  
––– ––– -100  
––– ––– 100  
––– ––– 22  
––– ––– 3.3  
––– ––– 9.0  
––– 8.4 –––  
––– 26 –––  
––– 51 –––  
––– 33 –––  
VGS = -4.5V, ID = -2.2A  
VGS = -2.7V, ID = -1.8A  
VDS = VGS, ID = -250µA  
VDS = -16V, ID = -2.2A  
VDS = -16V, VGS = 0V  
VDS = -16V, VGS = 0V, TJ = 125°C  
VGS = -12V  
RDS(ON)  
Static Drain-to-Source On-Resistance  
VGS(th)  
gfs  
Gate Threshold Voltage  
V
S
Forward Transconductance  
µA  
nA  
IDSS  
IGSS  
Drain-to-Source Leakage Current  
Gate-to-Source Forward Leakage  
Gate-to-Source Reverse Leakage  
Total Gate Charge  
VGS = 12V  
Qg  
ID = -2.2A  
Qgs  
Qgd  
td(on)  
tr  
Gate-to-Source Charge  
Gate-to-Drain ("Miller") Charge  
Turn-On Delay Time  
nC VDS = -16V  
VGS = -4.5V, See Fig. 6 and 12  
VDD = -10V  
RiseTime  
ID = -2.2A  
ns  
td(off)  
tf  
Turn-Off Delay Time  
FallTime  
RG = 6.0Ω  
RD = 4.5Ω, See Fig. 10  
D
LD  
LS  
Internal Drain Inductance  
Internal Source Inductance  
––– 4.0 –––  
––– 6.0 –––  
Between lead tip  
nH  
pF  
G
and center of die contact  
S
Ciss  
Coss  
Crss  
Input Capacitance  
––– 610 –––  
––– 310 –––  
––– 170 –––  
VGS = 0V  
Output Capacitance  
VDS = -15V  
Reverse Transfer Capacitance  
ƒ = 1.0MHz, See Fig. 5  
Source-Drain Ratings and Characteristics  
Parameter  
Continuous Source Current  
(Body Diode)  
Min. Typ. Max. Units  
Conditions  
MOSFET symbol  
showing the  
D
IS  
––– ––– -2.5  
A
G
ISM  
Pulsed Source Current  
(Body Diode)  
integral reverse  
––– ––– -17  
p-n junction diode.  
S
VSD  
trr  
Diode Forward Voltage  
Reverse Recovery Time  
Reverse RecoveryCharge  
Forward Turn-On Time  
––– ––– -1.0  
––– 56 84  
––– 71 110  
V
TJ = 25°C, IS = -1.8A, VGS = 0V  
TJ = 25°C, IF = -2.2A  
ns  
Qrr  
ton  
µC di/dt = 100A/µs  
Intrinsic turn-on time is negligible (turn-on is dominated by LS+LD)  
Notes:  
Repetitive rating; pulse width limited by  
max. junction temperature. ( See fig. 11 )  
Pulse width 300µs; duty cycle 2%.  
I
SD -2.2A, di/dt ≤− 50A/µs, VDD V(BR)DSS  
,
TJ 150°C  
IRF7304  
1 0 0  
1 0  
1
1 0 0  
1 0  
1
VGS  
7.5V  
VGS  
- 7.5V  
- 5.0V  
- 4.0V  
- 3.5V  
- 3.0V  
- 2.5V  
- 2.0V  
TOP  
-
TOP  
- 5.0V  
- 4.0V  
- 3.5V  
- 3.0V  
- 2.5V  
- 2.0V  
BOTTOM - 1.5V  
BOTTOM - 1.5V  
-1.5V  
-1.5V  
20µs PULSE WIDTH  
20µs PULSE WIDTH  
T
= 25°C  
T
= 150°C  
J
J
A
1 0 0  
0. 1  
0. 1  
A
0 . 0 1  
0. 1  
1
1 0  
0 . 0 1  
0. 1  
1
1 0  
1 0 0  
-V  
, Drain-to-Source Voltage (V)  
-V  
, Drain-to-Source Voltage (V)  
D S  
D S  
Fig 1. Typical Output Characteristics  
Fig 2. Typical Output Characteristics  
1 0 0  
1 0  
1
2. 0  
1. 5  
1. 0  
0. 5  
0. 0  
I
= -3.6A  
D
T
= 25°C  
J
T
= 150°C  
J
V
= -15 V  
20µs P ULS E W ID TH  
D S  
V
= -4.5V  
GS  
0. 1  
A
5. 0 A  
1. 5  
2. 0  
2. 5  
3. 0  
3. 5  
4. 0  
4. 5  
- 6 0  
- 4 0  
- 2 0  
0
2 0  
4 0  
6 0  
8 0  
1 0 0 1 2 0 1 4 0 1 6 0  
TJ , Junction Tem perature (°C)  
-VG S , Ga te-to-So urce Voltage (V)  
Fig 3. Typical Transfer Characteristics  
Fig 4. Normalized On-Resistance  
Vs. Temperature  
IRF7304  
1 5 0 0  
1 0  
8
V
= 0V,  
f = 1MHz  
I
V
= -2.2A  
= -16V  
DS  
GS  
D
C
C
C
= C  
= C  
= C  
+ C  
+ C  
,
C
d s  
SHORTE D  
iss  
gs  
gd  
ds  
gd  
rss  
oss  
gd  
C
C
is s  
1 0 0 0  
6
o s s  
r ss  
C
4
5 0 0  
2
FOR TES T CIRCUIT  
SEE FIGURE 12  
0
0
A
A
1
1 0  
1 0 0  
0
5
1 0  
1 5  
2 0  
2 5  
-VD S , Drain-to-Source Voltage (V)  
Q G , Total Gate Charge (nC)  
Fig 5. Typical Capacitance Vs.  
Fig 6. Typical Gate Charge Vs.  
Drain-to-Source Voltage  
Gate-to-Source Voltage  
1 0 0  
1 0  
1
100  
10  
1
OPERATION IN THIS AREA LIMITED  
BY R  
DS(on)  
T
= 150°C  
J
T
= 25°C  
J
1ms  
°
10ms  
T = 25 C  
A
J
°
T = 150 C  
V
= 0V  
GS  
Single Pulse  
0. 1  
A
0. 3  
0. 6  
0. 9  
1. 2  
1. 5  
1
10  
100  
-VSD , Source-to-Drain Voltage (V)  
-V , Drain-to-Source Voltage (V)  
DS  
Fig 7. Typical Source-Drain Diode  
Fig 8. Maximum Safe Operating Area  
Forward Voltage  
IRF7304  
RD  
VDS  
VGS  
5.0  
4.0  
3.0  
2.0  
1.0  
0.0  
D.U.T.  
RG  
-
+
VDD  
-4.5 V  
Pulse Width ≤ 1 µs  
Duty Factor ≤ 0.1 %  
Fig 10a. Switching Time Test Circuit  
V
DS  
90%  
10%  
25  
50  
T
75  
100  
125  
°
150  
V
GS  
, Case Temperature ( C)  
C
t
t
r
t
t
f
d(on)  
d(off)  
Fig 9. Maximum Drain Current Vs.  
Fig 10b. Switching Time Waveforms  
Ambient Temperature  
100  
10  
1
D = 0.50  
0.20  
0.10  
0.05  
0.02  
0.01  
P
DM  
t
1
SINGLE PULSE  
(THERMAL RESPONSE)  
t
2
Notes:  
1. Duty factor D =  
t / t  
1
2
2. Peak T = P  
J
x Z  
+ T  
A
DM  
thJA  
0.1  
0.0001  
0.001  
0.01  
0.1  
1
10  
100  
t , Rectangular Pulse Duration (sec)  
1
Fig 11. Maximum Effective Transient Thermal Impedance, Junction-to-Ambient  
IRF7304  
Current Regulator  
Same Type as D.U.T.  
50KΩ  
.2µF  
.3µF  
12V  
Q
G
-
-4.5 V  
V
+
DS  
D.U.T.  
Q
Q
GD  
GS  
V
GS  
V
G
-3mA  
I
I
D
G
Current Sampling Resistors  
Charge  
Fig 12a. Basic Gate Charge Waveform  
Fig 12b. Gate Charge Test Circuit  
IRF7304  
Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit  
+
Circuit Layout Considerations  
Low Stray Inductance  
Ground Plane  
D.U.T  
Low Leakage Inductance  
Current Transformer  
-
+
-
-
+
**  
RG  
dv/dt controlled by RG  
ISD controlled by Duty Factor "D"  
D.U.T. - Device Under Test  
+
-
*
VDD  
VGS  
*
* Reverse Polarity for P-Channel  
** Use P-Channel Driver for P-Channel Measurements  
Driver Gate Drive  
P.W.  
Period  
Period  
D =  
P.W.  
V
[
=10V  
] ***  
GS  
D.U.T. I Waveform  
SD  
Reverse  
Recovery  
Current  
Body Diode Forward  
Current  
di/dt  
D.U.T. V Waveform  
DS  
Diode Recovery  
dv/dt  
V
[
[
DD  
]
Re-Applied  
Voltage  
Body Diode  
Forward Drop  
Inductor Curent  
I
]
SD  
Ripple 5%  
*** VGS = 5.0V for Logic Level and 3V Drive Devices  
Fig 13. For P-Channel HEXFETS  
IRF7304  
Package Outline  
SO8Outline  
INCHES  
MILLIMETERS  
DIM  
D
MIN  
MAX  
MIN  
MAX  
1.75  
5
-
B -  
A
.0532  
.0040  
.014  
.0688  
.0098  
.018  
1.35  
0.10  
0.36  
0.19  
4.80  
A1  
B
0.25  
0.46  
0.25  
4.98  
3.99  
8
1
7
6
3
5
4
5
H
E
A
-
-
0.25 (.010)  
M
A
M
C
D
E
.0075  
.189  
.0098  
.196  
2
.150  
.157  
3.81  
e
e
.050 BASIC  
.025 BASIC  
1.27 BASIC  
K
x 45°  
6X  
e 1  
e1  
H
K
0.635 BASIC  
θ
.2284  
.011  
0.16  
0°  
.2440  
5.80  
0.28  
0.41  
0°  
6.20  
0.48  
1.27  
8°  
A
.019  
.050  
8°  
-
C -  
0.10 (.004)  
6
C
8X  
L
8X  
A1  
L
B
8X  
θ
0.25 (.010)  
M
C A S B S  
R E C O M M E N D E D F O O T P R I N T  
N O T E S :  
1. DIMENSIONING AND TOLERANCING PER ANSI Y14. 5M-1982.  
2. CONTROLLING DIMENSION INCH.  
0.72 (.028  
8X  
)
:
3. DIMENSIONS ARE SHOWN IN MILLIMETERS (INCHES).  
4. OUTLINE CONFORMS TO JEDEC OUTLINE MS-012AA.  
6.46  
(
.255  
)
1. 78 (. 070)  
8X  
5
D I M E N S I O N D O E S N O T I N C L U D E M O L D P R O T R U S I O N S  
MOLD PROTRUSIONS NOT TO EXCEED 0. 25 (. 006).  
DIMENSIONS IS THE LENGTH OF LEAD FOR SOLDERING TO  
A
SUBSTRATE..  
6
1.27  
(
.050  
)
3X  
Part Marking Information  
SO8  
EXAM PLE : THIS IS AN IRF7 101  
DATE CODE (YW W )  
LAST DIGIT OF THE YEAR  
W EEK  
Y
=
W W  
=
3 12  
XXXX  
INTERNATIONAL  
RECTIFIER  
LOGO  
F7 101  
W AFER  
LOT CODE  
PART NUM BER  
TOP  
(LAST  
4 DIGITS)  
BOTTOM  
IRF7304  
Tape & Reel Information  
SO8  
Dimensions are shown in millimeters (inches)  
T E R M IN A L N U M BE R  
1
1 2. 3  
1 1. 7  
(
(
.48 4  
.46 1  
)
)
8 .1  
7 .9  
(
(
.3 18  
.3 12  
)
)
F E E D D IR E C T IO N  
N OTES:  
1 . CO NTR OLL IN G DIM EN SION : M ILL IM ETER.  
2 . ALL D IM ENSIONS AR E SHO W N IN M ILL IM ETER S(IN CH ES).  
3 . OU TLINE C ON FORM S TO EIA-4 81 & EIA-54 1.  
3 30 .00  
(12 .9 92 )  
M A X .  
1 4.4 0  
1 2.4 0  
(
(
.5 66  
.4 88  
)
)
N O T ES  
1. C O N T R O LL IN G D IM E N S IO N  
2. O U T LIN E C O N F O R M S T O E IA -48 1  
:
:
M IL L IM E T E R .  
EIA -5 41 .  
&
WORLD HEADQUARTERS: 233 Kansas St., El Segundo, California 90245, Tel: (310) 322 3331  
EUROPEAN HEADQUARTERS: Hurst Green, Oxted, Surrey RH8 9BB, UK Tel: ++ 44 1883 732020  
IR CANADA: 7321 Victoria Park Ave., Suite 201, Markham, Ontario L3R 2Z8, Tel: (905) 475 1897  
IR GERMANY: Saalburgstrasse 157, 61350 Bad Homburg Tel: ++ 49 6172 96590  
IR ITALY: Via Liguria 49, 10071 Borgaro, Torino Tel: ++ 39 11 451 0111  
IR FAR EAST: K&H Bldg., 2F, 30-4 Nishi-Ikebukuro 3-Chome, Toshima-Ku, Tokyo Japan 171 Tel: 81 3 3983 0086  
IR SOUTHEAST ASIA: 315 Outram Road, #10-02 Tan Boon Liat Building, Singapore 0316 Tel: 65 221 8371  
http://www.irf.com/  
Data and specifications subject to change without notice.  
8/97  
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IRF7304TR产品参数
型号:IRF7304TR
是否Rohs认证: 不符合
生命周期:Obsolete
Reach Compliance Code:compliant
ECCN代码:EAR99
HTS代码:8541.29.00.95
风险等级:5.11
其他特性:LOGIC LEVEL COMPATIBLE
配置:SEPARATE, 2 ELEMENTS WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压:20 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):4.3 A
最大漏极电流 (ID):3.6 A
最大漏源导通电阻:0.09 Ω
FET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码:R-PDSO-G8
JESD-609代码:e0
元件数量:2
端子数量:8
工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:150 °C
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度):245
极性/信道类型:P-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):2 W
认证状态:Not Qualified
子类别:Other Transistors
表面贴装:YES
端子面层:TIN LEAD
端子形式:GULL WING
端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:30
晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1
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