虹科GENASYS半导体测试系列主要用于5G生产测试

“TS-900e-5G与Keysight公司的PXIeVNA实验室级仪器相结合，在多端口、多芯片、多毫米波元件等方面进行多点测试，采用高性能接收机接口制造晶圆探针，提供高达50GHz的可靠性能。这款TS-900e-5G体积小，适合半导体原设备制造商、设备验证、晶片检测和封装/测试供应商等，对于需要高性价比、可配置的毫米波测试系统的企业是一种理想的测试解决方案。

全球半导体产业持续高速发展。BDV65B预计到2021年，5G将成为焦点，第一批大型基础设施将支持自动驾驶和高速数据传输，以及低延迟和大网络容量。尽管这些应用还没有完全实现，但是它的前景已经非常明确。在科技不断发展的今天，工程技术人员既要面对设计和开发设备的挑战，又要面对能保证设备性能和可靠性的生产试验能力的挑战。5G技术将驱动特定客户测试需求。

在半导体测试方面，虹科的GENASYS半导体测试系列目前包括TS-900e-5GmmWave/5GPXIe生产测试系统，这位市场总监表示，该产品目前主要用于5G生产测试。“TS-900e-5G与Keysight公司的PXIeVNA实验室级仪器相结合，在多端口、多芯片、多毫米波元件等方面进行多点测试，采用高性能接收机接口制造晶圆探针，提供高达50GHz的可靠性能。这款TS-900e-5G体积小，适合半导体原设备制造商、设备验证、晶片检测和封装/测试供应商等，对于需要高性价比、可配置的毫米波测试系统的企业是一种理想的测试解决方案。该系统的软件包括一组数字、参数测试函数和SPI/I2C接口，用于控制和监控DUT。

DIOEasy支持数字波形编辑/显示，而ICEasy支持设备测试开发、公司的ATEasy集成开发环境(IDE)以及测试执行使用户可以快速开发和维护测试应用程序，同时接收器界面也与Opus3、TEL探测站、SeikoEpsonE8040和E8080设备处理器兼容。Semancik说：“TS-900e-5G是基于PXIe的开放架构设计，它提供了很好的灵活性，可维护性和前瞻性。便于升级，使之与最新的规范版本保持一致，进一步提高测试系统的实用性。

Hurtarte是另一家公司的无线产品营销策略师，他说，竞争策略在DUT和内部仪器之间添加了一层线，即测试头部顶部的“中间层”。“这是一个附加机械外壳，里面有mmWave电路，上面是从DIB到DUT，”他解释道。将这一额外的图层添加到测试头之外，就意味着一根多组信号传输电缆。检测程序包括仪器头部到DUT中间层。如果存在多个信号传输层，那么就会变得更复杂，也更难保证校准精度。他补充道：“我们完全去除了中间层，使得测试更加简单，并将继续监测毫米波空间中任何新的光谱。

据MM公司市场和业务发展部副总裁SteveDudkiewicz称，MM公司对设备描述和建模解决方案的需求在不断增长，这些方案超过了28GHz，能够支持5GFR2、汽车雷达和下一代半导体技术评估等应用。这个应用不仅可以驱动更高的频率，还可以增加调制带宽。面对这些挑战，我们最先进的半导体测试解决方案采用极高的调制带宽，将频率覆盖扩展到1.1THz，提高了拉载能力。杜德基维兹还表示，5G将使移动通信的性能达到一个新的水平，提高速度，降低延迟，提高可靠性，部分原因在于28GHz和38GHz左右的FR2频段以及数百MHz的信道带宽。

这些带宽对被动阻抗调谐器提出了挑战，因为相位的变化将导致整个频率范围内阻抗控制的损失，从而降低ACPR、EVM、PAE等调制信号的性能。针对这一问题，本文设计了混合信号有源负载牵引系统，该系统能够修正阻抗相位变化，允许用户在1,000MHz的频段上以最高40GHz的频率设置任意阻抗。采用宽频阻抗控制方法，可将实际网络和天线负载情况相结合，对DUT矢量校正后的性能进行精确描述。

其他公司也在MySystem平台上为5G测试设备和ATE开发组件。举例来说，Pickering提供多种RF产品，而市场工程师JonathanLeitner则认为“理想的转换”能够很好地满足5G测试应用对RF产品的需求。“基于RF和微波测试的开关产品市场就是三个例子，”他说。一种是同轴SPDT开关，另一种是集成DPDT开关模块，第三种是基于PXI结构的紧凑开关矩阵。这些产品将面向新兴的射频，微波单端和差分组件，以及涉及探测，DIB,ATE，测试和测量设备的系统测试应用，他补充道。

这两种方案都将利用开关设计中固有的低插入损耗，极高的线性和可靠性，比传统固态和继电器技术更具优势。JonSemancik展望未来时表示：“我们认为，随着5G基础设施系统的出现，大型MIMO和高集成波控天线将得到更大的发展。本公司已研制成功一种小型、可伸缩延迟线移相装置，以驱动3.5GHzCBRS波段控制天线。有别于传统的用电动机械移相器来控制波束方向，或用那些倾斜的大型天线，这种移相器完全由电子控制。

核心部件是开关，85dBm的IP3和0.2dB的插入损耗，这将导致更小的相移器和更集成的天线，能够更好地满足正在出现的5G小型和微型蜂窝无线电。最终，核心产品负责人StephenDrinan说：“我们将全部精力放在5G研发上，”我们利用了最新的高频测试室。随着5G测试需求的不断增长，我们已经在5G测试设备的内部运行实施方面走在了前列。他们为产品设计和系统制造提供了专业技术，使设计工程师能够开发出适合大规模生产的5G产品。对5G测试的需求和要求非常高，”他说。”“5G测试需要很高的专注程度和专业技术，这将需要大量测试交付时间。目前5G市场上已有大量的天线和高速板接插件，未来将继续开发这些产品。