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OR3T125-5BC600I 参数 Datasheet PDF下载

OR3T125-5BC600I图片预览
型号: OR3T125-5BC600I
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内容描述: 3C和3T现场可编程门阵列 [3C and 3T Field-Programmable Gate Arrays]
分类和应用: 现场可编程门阵列
文件页数/大小: 210 页 / 4391 K
品牌: AGERE [ AGERE SYSTEMS ]
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数据表
1999年6月
ORCA
系列3C和3T的FPGA
特殊的功能块
(续)
s
边界扫描
日益增加的集成电路的复杂性( IC)的
和IC封装增加测试的DIF网络culty
印刷电路板(PCB) 。为了解决这个测试
问题,该
IEEE
标准1149.1 / D1 ( IEEE标准
测试访问端口和边界扫描结构)是
在实施
ORCA
系列FPGA 。它允许
用户能够有效地测试之间的互联
在PCB上的集成电路以及测试英特
磨碎的电路本身。该
IEEE
1149.1 / D1的标准是一种
明确定义的协议,以确保互操作性
间的边界扫描( BSCAN )配备设备
从不同的供应商。
IEEE
1149.1 / D1的标准定义了一个测试访问
端口( TAP) ,它由一个四针接口与
可选的复位引脚为英特边界扫描测试
磨碎的电路在一个系统中。该
ORCA
FPGA系列
提供了四个接口引脚:测试数据输入( TDI ) ,测试
模式选择(TMS)测试时钟(TCK )和测试数据输出
( TDO ) 。该
PRGM
引脚用于侦察网络gure设备
也复位边界扫描逻辑。
用户测试主机串行加载测试命令和
测试数据到FPGA通过这些引脚以驱动输出
提出和研究的投入。在显示的CON组fi guration
图36中,其中的边界扫描是用来测试集成电路,
测试数据被串行地发送到网络连接的第一个TDI的
BSCAN器件(U1 ) ,通过TDO / TDI连接
BSCAN设备( U2和U3 )之间,进出TDO
最后BSCAN设备( U4 ) 。在这种配置中,
的TMS和TCK信号被路由到所有的边界扫描
并行芯片,使所有的边界扫描元件
操作在相同的状态。在其他CON连接gurations , mul-
tiple扫描路径来代替一个单一的环。当
多个扫描路径被使用时,每个环是indepen-
通过其自身的TMS和TCK信号dently控制。
图37提供了用于组件的系统接口
在印刷电路板的边界扫描测试中使用。三
显示的主要成分是测试主机, boundary-
扫描支持电路,与被测器件
(被测设备) 。这里显示的是被测器件
ORCA
系列
FPGA的专用边界扫描电路。该
测试主机通常是下列之一:自动测试
设备(ATE) ,工作站,个人计算机,或一个微处理器的
处理器。
TMS TDI
TCK
TDO
U2
纯B
C网
TMS TDI
TCK
TDO
U2
TDI
TMS
TCK
TDO
TMS TDI
TCK
TDO
TMS TDI
TCK
TDO
U3
U4
见放大图BELOW
TDO TCK TMS TDI
PT [ IJ ]
TAPC
绕行
注册
指令
注册
扫描
OUT
BSC
DCC
BDC
PL [ IJ ]
扫描
IN
P_OUT
p_ts
扫描
OUT
P_IN
扫描
IN
P_IN
p_ts
P_OUT
PLC
ARRAY
P_IN
P_OUT
p_ts
扫描
OUT
扫描
IN
BSC
BDC DCC
P_IN
P_OUT
扫描
IN
BSC
BDC
DCC
PR [ IJ ]
p_ts
扫描
OUT
BSC
DCC BDC
PB [ IJ ]
5-5972(F)
关键字: BSC =边界扫描单元, BDC =双向数据单元,
和DCC =数据控制单元。
图36.印刷电路板与Boundary-
扫描电路
朗讯科技公司
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