EEPROM
奥斯汀半导体公司
AS8E512K8
电气特性和推荐AC读操作
条件
(-55
o
C<T
A
<+125
o
℃; VCC = 5V + 10 % )
? ! " ? # ? ? "" ???? ? ! ?
交流读波形
(1,2,3,4)
地址
CE \\
t
CE
t
OE
t
加
产量
V
ALID
地址有效
OE \\
t
DF
t
OH
产量
高Z
注意事项:
1. CE \\可能会延迟到t
加
-t
CE
地址跃迁后
化不inpact对T
加
.
2. OE \\可能会延迟到t
CE
-t
OE
的下降沿之后
CE \\无inpact对T
CE
或用t
加
-t
OE
一个地址后,
更改,恕不inpact对T
加
.
3. t
DF
从OE \\或CE \\指定以先到者为准
(C
L
= 5pF的) 。
4.此参数的特点,而不是100%测试。
5, A17和A18必须通过WE \\和CE \\仍然有效
低脉冲。
输入测试波形和测量
水平之AC测试条件
在P ü吨P ü LS è L E V ê LS
在P ü吨R是E A N D F A LL牛逼的IM (E S)
在P ü T A N D O u那样TP ü吨
牛逼的IM以g ř Ë FE重新ñ权证L E V ê LS
AS8E512K8
第3.1版6/05
输出测试负载
5.0V
1.8K
1.3K
100pF
0 V至3 0.0 V
5nS
1 .5 V
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
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