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AS8F128K32Q1-90/Q 参数 Datasheet PDF下载

AS8F128K32Q1-90/Q图片预览
型号: AS8F128K32Q1-90/Q
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内容描述: 128K ×32的FLASH快闪存储器阵列 [128K x 32 FLASH FLASH MEMORY ARRAY]
分类和应用: 闪存存储内存集成电路
文件页数/大小: 22 页 / 390 K
品牌: AUSTIN [ AUSTIN SEMICONDUCTOR ]
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FL灰
奥斯汀半导体公司
AC特性
参数
只读操作
读周期时间
1
AS8F128K32
-60 -70 -90 -120 -150单位
60 70 90 120 150
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
符号
JEDEC标准
t
AVAV
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
1,2
1,2
测试设置
CEX \\ = V
IL
OE \\ = V
IL
t
RC
t
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OEH
切换和
数据轮询
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z
最大60 70 90 120 150
最大60 70 90 120 150
最大30 35 40
最大20 20 25
最大20 20 25
0
10
0
50
30
30
55
35
35
输出使能到输出高Z
输出使能保持时间
1
从地址输出保持时间
CEX \\或OE \\ ,以先到者为准
擦除和编程操作
写周期时间
1
t
AXQX
t
AVAV
t
AVWL
t
WLAX
t
DVWH
t
WHDX
t
GHWL
t
ELWL
t
WHEH
t
WLWH
t
WHWL
t
OH
t
WC
t
AS
t
AH
t
DS
t
DH
t
GHWL
t
CS
t
CH
t
WP
t
WPH
t
WHWH1
t
WHWH2
t
VCS
典型值
典型值
60 70 90 120 150
0
45 45 45
30 30 45
0
0
0
0
30 35 45
20
14
1.0
50
50
50
50
50
50
50
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
µs
美国证券交易委员会
µs
地址建立时间
地址保持时间
数据建立时间
数据保持时间
阅读恢复时间之前写
( OE \\高到WEX \\低)
CEX \\建立时间
CEX \\保持时间
把脉冲宽度
写脉冲宽高
字节编程操作
扇区擦除操作
V
CC
建立时间
1
4
4
t
WHWH1
t
WHWH2
注意事项:
1.
2.
3.
4.
未经100%测试。
输出驱动器禁止时间。
参见图7和表6测试规范。
请参阅“擦除和编程性能”一节以获取更多信息。
AS8F128K32
2.0版本5/03
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
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