奥斯汀半导体公司
超前信息
奥斯汀半导体公司
数据保留和耐力
参数
数据
R
NV
C
描述
数据保留
非易失性存储操作
民
20
200
单位
岁月
周期
AS8nvC512K32
NVSRAM
电容
在下面的表中,电容参数列。
12
参数
描述
C
IN
输入电容(地址, OE \\ , HSB \\ )
C
IN
C
输出( DQ)
输入电容( CE \\
1 4
我们\\
1 4
I / O容量
测试条件
T
A
= 25 ° C,F = 1MHz时,
V
CC
= 0〜 3.0V
民
50
20
25
单位
pF
pF
pF
热阻
在下面的表中,热阻参数列。
12
参数
JA
JC
描述
热阻
(结到环境)
热阻
(结点到外壳)
测试条件
测试条件遵循的标准测试方法
以及用于测量热过程
阻抗,根据EIA / JESD51的。
44 TSOP II
待定
待定
44鸥翼式单位
待定
待定
o
C / W
C / W
o
AC测试负载
577
5.0V
产量
30 pF的
R2
789
R1
577
5.0V
产量
5 pF的
R2
789
R1
为三态规格
AC测试条件
输入脉冲电平............................................... ..... 0V到3V
输入上升和下降时间( 10 % - 90 % ) ........................ <3 NS
输入和输出时序参考电平1.5V ....................
记
12.这些参数是保证,但未经测试。
AS8nvC512K32
修订版0.0 08/09
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