DS1020
DALLAS半导体测试电路
图4
测试设置说明
图4示出用于测量DS1020的定时参数的硬件配置。
输入波形是通过在软件控制下一个精确的脉冲发生器产生的。时间延迟是
由连接到输出的时间间隔计数器(20 ps分辨率)进行测定。在DS1020系列和
并行端口由接口控制的中央计算机。所有测量均完全自动化
通过计算机在IEEE 488总线控制每台仪器。
测试条件
输入:
环境温度:
电源电压(V
CC
):
输入脉冲:
源阻抗:
上升和下降时间:
25°C
±=3°C
5.0V
±=0.1V
高= 3.0V
±=0.1V
低= 0.0V
±=0.1V
50欧姆最大。
3.0 ns(最大值) 。
(之间测量
0.6V和2.4V )
脉冲宽度:
500纳秒( DS1020-15 )
500纳秒( DS1020-25 )
2
µs
(DS1020–50)
4
µs
(DS1020–100)
4
µs
(DS1020–200)
1
µs
(DS1020–15)
1
µs
(DS1020–25)
4
µs
(DS1020–50)
8
µs
(DS1020–100)
8
µs
(DS1020–200)
期限:
注意:以上条件仅用于测试,并且不限制该装置的下其他数据的操作
板的条件。
输出:
输出装有一个74F04 。延迟的输入的上升沿的1.5V电平之间测量
信号和输出的对应边的1.5V电平。
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