DS2155
34.
JTAG边界扫描结构和测试访问端口
34.1说明
DS2155的IEEE 1149.1设计支持标准的指令代码SAMPLE / PRELOAD ,
旁路和EXTEST 。包括可选的公共指令HIGH -Z , CLAMP和IDCODE
该DS2155包含所要求的IEEE 1149.1标准测试了以下功能
访问端口( TAP)和边界扫描结构。
测试访问端口
TAP控制器
指令寄存器
旁路寄存器
边界扫描寄存器
设备识别寄存器
该DS2155是引脚兼容的DS2152 , DS21x52 ( T1)和DS2154 , DS21x54 ( E1 ) SCT
家庭。该JTAG功能使用引脚,曾在DS2152和DS2154不起作用。有关详细信息
边界扫描架构和TAP是IEEE 1149.1-1990 , IEEE 1149.1a - 1993和IEEE
1149.1b-1994.
注意:
JTAG功能仅在25℃的生产测试。
在TAP包含必要的接口引脚JTRST , JTCLK , JTMS , JTDI和JTDO 。见销
在说明部分
了解详细信息。
图34-1 。 JTAG功能框图
边界扫描
注册
鉴定
注册
绕行
注册
MUX
指令
注册
SELECT
测试访问端口
调节器
+V
10kΩ
10kΩ
+V
+V
OUTPUT ENABLE
10kΩ
JTDI
JTMS
JTCLK
JTRST
JTDO
238 199