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EN29F010-45SCP 参数 Datasheet PDF下载

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型号: EN29F010-45SCP
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内容描述: 1兆位( 128K ×8位), 5V闪存 [1 Megabit (128K x 8-bit) 5V Flash Memory]
分类和应用: 闪存存储内存集成电路光电二极管
文件页数/大小: 35 页 / 428 K
品牌: EON [ EON SILICON SOLUTION INC. ]
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EN29F010
写操作状态
DQ7
数据
轮询
该EN29F010提供
数据
轮询上DQ7 ,以指示主机系统的状态
嵌入式的操作。该
数据
轮询功能处于活动状态的字节编程,扇区中
擦除,芯片擦除和擦除挂起。 (见表6 )
当字节编程过程中,尝试读取设备将产生的
数据补充一次写DQ7 。当完成了字节编程,同比
尝试读取设备将产生最后写到DQ7的真实数据。对于字节编程,
数据
轮询后的第四个上升沿有效
WE
or
权证
脉冲中的4周期的序列。
当嵌入的擦除过程中,尝试读取设备将产生一个“0”,在
DQ7输出。当完成了嵌入式擦除,设备会产生“ 1 ”在DQ7
在读输出。对于芯片擦除时,
数据
轮询后的第六个上升沿有效
宽E
or
CE
脉冲中的六个周期的序列。对于扇区擦除,
数据
投票是在最后有效
扇区擦除的上升沿
宽E
or
权证
脉搏。
数据
轮询必须在任何地址被编程或扇区内执行
擦除和不被保护的扇区。否则,
数据
投票可能会给出一个准确的结果,如果
使用的地址是在一个受保护的行业。
之前,为了完成嵌入式操作, DQ7可能改变异步时
输出使能(
OE
)是低的。这意味着该设备的驱动状态信息的DQ7在
的时间和有效数据的时间的下一个瞬间1瞬间。根据系统时
样品的DQ7输出,它可以读取有效数据的状态。即使该设备已完成
嵌入式的操作和DQ7有一个有效的数据,在DQ0 -DQ6数据输出可能仍然无效。
在DQ0 - DQ7的有效数据将被读取的后续读取的尝试。
该流程图
数据
轮询( DQ7 )被显示在流程图5。
数据
轮询( DQ7 )时序
图示于图8 。
DQ6
切换位I
该EN29F010提供DQ6一个“触发位”,以表明主机系统的状态
嵌入式编程和擦除操作。 (见表6 )
在嵌入式编程或擦除操作,连续尝试从设备读取数据
在任何地址(通过切换
OE
or
CE
)将导致“零”,“一”之间DQ6切换。一旦
嵌入式编程或擦除操作完成后, DQ6将停止切换,有效的数据将
读取下一个连续的尝试。在字节编程,切换位后有效
第四个上升沿
WE
脉冲中的4周期的序列。对于芯片擦除,切换位
之后的第六周期序列的上升沿有效。对于扇区擦除,之后触发位是有效的
扇区擦除的最后一个上升沿
宽E
脉搏。切换位也很活跃的部门中
擦除超时时段。
该数据表可以通过后续的版本中修改
或修改,由于改变的技术规格。
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© 2003宙硅解决方案公司, www.essi.com.tw
A版,发行日期:二〇〇三年十月二十零日