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EN29F040A-45JC 参数 Datasheet PDF下载

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型号: EN29F040A-45JC
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内容描述: 4兆位( 512K ×8位)快闪记忆体 [4 Megabit (512K x 8-bit) Flash Memory]
分类和应用:
文件页数/大小: 35 页 / 272 K
品牌: EON [ EON SILICON SOLUTION INC. ]
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EN29F040A
在字节编程,如果被写入该部门是受保护的, DQ6将切换为约2
µs,
然后
停止切换而无需在扇区中的数据已经改变。在扇区擦除或芯片擦除,如果所有的
选定行业的保护, DQ6将发生翻转约100
µs.
该芯片将返回到读
模式没有在所有受保护的领域不断变化的数据。
无论是切换
CE
or
OE
会引起DQ6切换。
为触发位( DQ6 )的流程图如图6流程图翻转位时序图
在图9所示
.
DQ5超出时间限制
DQ5表示编程或擦除时间是否已超过规定的内部脉冲计数极限。
在这些条件下DQ5产生一个“1” (
切换位( DQ6 )也应该在这个检查
时间,以确保该DQ5不是“1”,由于具有返回的设备来读取模式)。
这是
一个失败的情况,表示该程序或擦除周期没有成功完成。
.
数据
轮询( DQ7 ) ,触发位( DQ6 )和擦除翻转位( DQ2 )仍然在此条件下正常工作。
设置
CE
到V
IH
将部分断电的那些条件下的设备。
如果系统尝试编程一个“1”的位置是先前的DQ5失效的条件下,可能会出现
编程为“0”。
只有擦除操作可改变为“0”回到“ 1”。
在这种条件下,该
设备停止操作,并且当操作已经超过了时间限制, DQ5产生一个“1”。
这两种情况下,系统必须发出复位命令将设备返回到阅读
阵列的数据。
DQ2切换擦除第二位
上DQ2的“翻转位” ,与DQ6使用时,表示一个特定的扇区是否被积极地擦除
(也就是说,嵌入式擦除算法正在进行中) ,还是该部门是擦除暂停。切换
第二位是后最终WE#脉冲的命令序列的上升沿有效。 DQ2切换时
系统在读取已选择擦除这些部门中的地址。 (该系统可
请使用OE #或CE #控制读取周期)。但是DQ2不能区分该行业是否
积极擦除或擦除暂停。 DQ6 ,通过比较,表明该设备当前是否正在
擦除,或者在擦除挂起,但不能区分哪个部门都选择删除。因此,既
状态位所需的扇区和模式信息。请参考表6比较了DQ2和输出
DQ6.
流程图6所示为触发位算法,以及部分“ DQ2 :触发位”解释的算法。看
也是“ DQ6 :切换位I”款。请参阅触发位时序图的触发位时序
图。在DQ2与DQ6图显示图形的形式DQ2和DQ6之间的差异。
阅读切换位DQ6 / DQ2
参见流程图6下面的讨论。每当系统最初开始读触发位
状态,它必须至少两次读取DQ7 - DQ0在一排,以确定是否切换位切换。
典型地,一个系统将注意到和第一读之后切换位的值存储。之后的第二
读出时,系统将与所述第一切换位的新值进行比较。如果触发位不
来回切换,该设备已完成编程或擦除操作。该系统可以读取阵列数据
在下面的读周期DQ7 - DQ0 。
然而,如果在最初的两个读周期中,系统确定该切换位仍然切换,所述
系统还应该注意DQ5的值是否为高电平(参见上DQ5的部分)。如果是,则系统
这时应再确定是否触发位被触发,由于触发位可能已停止
切换就像DQ5去高。如果触发位不再切换,该设备已成功
该数据表可以通过后续的版本中修改
或修改,由于改变的技术规格。
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© 2003宙硅解决方案公司, www.essi.com.tw
版本B ,发行日期: 2004/04/01