ESD容差
该SP207E系列采用rug-
gedized ESD单元上的所有驱动器输出
和接收器输入引脚。静电放电struc-
TURE是在我们以前的FAM-改善
随手为更坚固的应用和
环境敏感对静电
放电和瞬变。该
改进的ESD耐受至少+ 5kV的
无损坏，也不闭锁。
有ESD测试的不同的方法
应用：
一） MIL -STD- 883 ，方法30 ？ 5.7
B） IEC ？ 000-4-2空气放电
C） IEC ？ 000-4-2直接联系
他们必须保证一定量的ESD
由于系统本身保护暴露
到外部环境和人类压力
ENCE 。与IEC的前提？ 000-4-2是
该系统需要能够承受的量
的静电，当静电被施加到
分和所述设备的表面那
是在正常的访问人员
用法。该收发器IC接收最
ESD电流的ESD源时，
被施加到连接器插针。试验
电路，用于IEC ？ 000-4-2示于图8中。
有IEC ？ 000-4-2内两种方法，
空气放电法和接触
放电法。
与空气放电法，防静电
电压下施加到设备
通过空中测试（ EUT ） 。这模拟的
充电的人准备连接
一个电缆到系统中只在后
就在人前，找到一个不愉快的ZAP
接触后面板。高能量
对人的潜在排放通
一个电弧放电路径到系统的后面板
之前，他或她甚至接触到系统中。
这种能量，无论是直接排放或
通过空气，是主要的功能
放电电流，而不是排
电压。与空气排出这样的变量
作为承载物体的接近速度
静电势的系统和湿度
将趋向于改变放电电流。
例如，放电的上升时间
目前随进近速度。
R
S
人体模型一直是
常用的ESD测试方法
半导体。该方法也
specified in MIL-STD-883, Method 3015.7
用于ESD测试。该ESD的前提
测试是模拟人体的潜能
存储静电能量和放电
它的集成电路。仿真是
通过使用测试模型如图所示进行
在图7中，此方法将测试该集成电路的
有能力承受ESD瞬变
在正常操作期间，例如在制造
facturing领域的集成电路趋向于
经常处理。
在IEC- ？ 000-4-2 ，原IEC80 ？ -2 ，是
一般用于设备的ESD测试
和系统。对于系统制造商，
R
C
SW1
直流电源
来源
SW2
C
S
设备
下
TEST
图7. ESD测试电路（人体模式）
Exar公司48720加藤道，弗里蒙特CA ， 94538 • 5 ？ 0-668-70 ？ 7 •www.exar.com
SP207E_00_072309
0
EXAR [ EXAR CORPORATION ]
