接触放电模式
R
C
SW1
直流电源
来源
R
S
R
V
SW2
C
S
设备
下
TEST
RS和RV加起来330Ω的IEC1000-4-2 。
图8. ESD测试电路IEC ？ 000-4-2
接触放电法的适用
直接ESD电流到EUT 。该方法
被设计以减少不可预测
的ESD电弧。放电电流上升
时间是恒定的，因为能量是直接
转移而不气隙弧。
在诸如手持式系统的情况下，
静电电荷可直接排放到
从一个人的设备已经保持
该设备。目前被传送
到键盘或者是串口
设备直接再穿过
印刷电路板，最后到IC 。
在图中的电路模型图7和8表示
用于所有典型的ESD测试电路
三种方法。了C
S
初始充电
与DC电源时，所述第一
switch (SW1) is on.
现在，该电容器被充电时，仲
ond switch (SW2) is on while SW1 switches
关。存储在电容器上的电压是
然后，通过研究应用
S
中，限流
电阻，到被测设备（ DUT） 。
In ESD tests, the SW2 switch is pulsed so
所测试的设备接收到一个持续时间
化电压。
对于人体模型，目前
限流电阻（R
S
）和源电容器
30A
5A
0A
t=0ns
t
t=30ns
Figure 9. ESD Test Waveform for IEC1000-4-2
(C
S
) are 1.5kΩ an 100pF, respectively. For
IEC- ？ 000-4-2 ，限流电阻器
(R
S
）和源电容器（C
S
) are 330Ω
一个？ 50pF的分别。
在较高的C
S
值和较低的ř
S
价值
在IEC ？ 000-4-2模型更为严格
比人体模型。较大
存储电容器注入更高的电压
to the test point when SW2 is switched on.
在较低的电流限制电阻的增加
电流充电到测试点。
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