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E28F008S3-120 参数 Datasheet PDF下载

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型号: E28F008S3-120
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内容描述: 字节宽的SMART 3 FlashFile Memory系列4 ,8和16 MBIT [BYTE-WIDE SMART 3 FlashFile MEMORY FAMILY 4, 8, AND 16 MBIT]
分类和应用:
文件页数/大小: 41 页 / 701 K
品牌: INTEL [ INTEL CORPORATION ]
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字节宽的SMART 3 FlashFile ™ Memory系列
2.1
数据保护
3.2
输出禁用
E
根据不同的应用中,系统设计者
可以选择使在V
PP
电源
可切换(仅当内存块
擦除,编程或锁定位配置操作
为必填项)或硬连线到V
PPH1/2
。该装置
无论是适应设计实践和
鼓励处理器的存储器的优化
界面。
当V
PP
V
PPLK
,存储器的内容不能被
改变。当高电压被施加到V
PP
中,
二步块擦除,编程或锁定位
配置命令序列为亲
tection免受不必要的操作。所有的写
功能被禁用时, V
CC
电压低于
写锁定电压V
LKO
或者RP #为
V
IL
。该器件的块锁定功能提供
从无意的代码或数据的额外保护
通过改变门擦除和编程操作。
用OE #为逻辑高电平(V
IH
) ,该装置
输出被禁止。输出管脚DQ
0
-DQ
7
置于高阻抗状态。
3.3
待机
CE#为逻辑高电平( V
IH
)将器件置于
待机模式,大大降低了设备
功耗。 DQ
0
-DQ
7
输出均处于
在一个高阻抗状态独立的OE# 。如果
在块擦除,编程或锁定位取消
配置方面,设备继续正常工作,
消耗有功功率,直到操作
完成。
3.4
深度掉电
RP #在V
IL
启动深度掉电模式。
3.0
总线操作
本地CPU读取和写入闪速存储器
在系统。所有的总线周期来或从闪速
内存符合标准的微处理器总线
周期。
3.1
在读模式, RP # - 低取消选择的记忆,
放置输出驱动器处于高阻抗状态,
并关闭所有内部电路。 RP #必须保持
低时间t
PLPH
。时间t
PHQV
之后需要
从掉电前的初始内存访问返回
输出是有效的。此唤醒间隔后,
恢复正常工作。崔重置
读阵列模式,以及状态寄存器被设置为
80H.
在块擦除,编程或锁定位
配置RP # - 低会中止操作。
RY / BY #保持低电平,直到复位操作
完整的。存储器中的内容被修改没有
不再有效;该数据可以被部分地擦除或
写的。时间t
PHWL
之后需要RP #去
逻辑高电平(V
IH
)之前,另一个命令即可
写的。
与任何自动化设备,重要的是要
断言RP #在系统复位。当系统
脱离复位状态,预计从闪存读取
内存。自动化的快闪记忆体提供状态
在块擦除访问时的信息,
程序或锁定位配置模式。如果CPU
复位时不带闪存的复位,适当
CPU的初始化可能不会发生,因为闪光灯
内存可提供状态信息
而不是阵列的数据。英特尔的快闪存储器,可以实现
合适的CPU初始化在系统复位后
通过使用反相#输入的。在本申请中,
RP #由相同RESET#信号控制该
复位系统的CPU。
块信息,识别码,或状态寄存器
可以读取的独立的Ⅴ的
PP
电压。 RP #
可以在任一V
IH
或V
HH
.
第一个任务是编写适当的读模式
命令(读阵列,读取识别码,或
读状态寄存器)的CUI 。在初始
器件上电或由深加电后退出
暂停模式时,设备会自动复位阅读
阵列模式。四个控制引脚决定了数据流
在进出成分: CE# , OE# , WE# ,和
RP # 。 CE #和OE #必须驱动为主动获取
在输出数据。 CE#为设备选择
控制和主动的时候能选定
存储器设备。 OE#为数据输出(DQ
0
-DQ
7
)
控制和活动时驱动器的选择
存储器数据到I / O总线。 WE#必须在V
IH
和RP #必须在V
IH
或V
HH
。图17
示出了一个读周期。
12
初步