LMU112
设备公司
12× 12位并行乘法器
笔记
9. AC规格与测试
输入转换时间小于3纳秒，
1.5 V的输出参考电平（除
t
DIS
名义上试验） ，并输入电平
0 〜3.0 V.输出负载可以是一个
电阻分压器，其中提供了用于
特定网络版
I
OH
和
I
OL
在输出端
电压
V
OH
分，
V
OL
最大
2.分别由该光谱描述的产品。可替换地，一个二极管
ification包括与上，下电流的内部电路DE-桥
签署保护芯片免受damag-
来源
I
OH
和
I
OL
分别为，
荷兰国际集团衬底注入电流，以及交流和1.5伏的平衡电压可以是
静电荷cumulations 。尽管如此使用。寄生电容是30 pF的
以下，常规预防措施，应最小，且可分布。
在储存过程中可以观察到，处理，
和使用这些电路，以该设备具有高速输出钙
避免接触到的大的瞬时电流过大的电pable
应力值。
脉冲和快速的开启/关闭时间。
其结果是，必须注意，在行使
3.本设备提供此设备的测试硬夹紧。以下
瞬时冲和过冲。建议在 - 措施：
把地面以下或以上的水平
V
CC
将被钳位开始在-0.6 V和一个。一个0.1 μF陶瓷电容应
V
CC
+ 0.6 V.该器件可承受的安装
V
CC
和地面
不确定的操作与输入的导线尽量靠近被测设备
范围为-0.5 V至7.0 V.设备操作（DUT）成为可能。类似的电容
化也不会受到不利的影响，应如何 - 设备之间安装
V
CC
以往，输入电流水平将是很好的，共同的测试仪，和设备
地面人员和测试人员共同的。
超过100毫安。
4.实际的测试条件可能与B各不相同。地面和
V
CC
供应面
这些指定的，但操作瓜尔必须直接带到DUT
规定及担。
插座或接触的手指。
5.供应电流给定应用程序下进行。输入电压应调整
化，可以准确地近似为：补偿感性地和
V
CC
噪音维持所需的DUT输入
NCV
2
F
相对于DUT的接地引脚的电平。
4
哪里
10.每一参数被示为MIN-
imum或最大值。重新输入
quirements从指定点
视外部系统驱动的
该芯片。设置时间，例如，是
指定为最小，因为克斯特
6.测试所有的输出变化的EV-最终系统必须提供至少是
红霉素周期和无负载时，在5MHz的时钟太多的时间，以满足最坏情况下的再
各地quirements 。从响应
率。
内部电路，从指定
7.测试用内视设备的点0.1 V所有输入。产量
V
CC
或地面，无负载。
延迟，例如，被指定为一个
8.这些参数都保证最高的，因为最坏的情况下运行
任何设备总是在提供数据
但不是100 ％测试。
那段时间。
n =在器件输出总数
每个输出C =容性负载
V =电源电压
F =时钟频率
1.最大额定值表示压力
规格而已。功能能操作
这些产品中的超越值ATION
那些在工作条件说明
系统蒸发散表是不是暗示。接触
绝对最大额定值条件为前
往往周期会影响其可靠性。
11.对于
t
ENA
试验中，过渡是
测量到1.5V的交叉点
有数据负载。对于
t
DIS
测试，
过渡被测量到的
从测量的± 200mV的电平
稳态输出电压与
± 10毫安负荷。平衡电压
年龄，V
TH
被设定在3.5 V对于Z-到0
和0至-Z的测试，并设置为0V的制备Z-
对1和1对-Z的测试。
12.这些参数仅在测试
高温极端，这是
最坏的情况下泄漏电流。
F
IGURE
Ø A.
安输出
L
OADING
C
IRCUIT
DUT
S1
I
OL
C
L
I
OH
V
TH
F
IGURE
B 。吨
HRESHOLD
L
EVELS
t
ENA
OE
Z
0
1.5 V
1.5 V
1.5 V
t
DIS
3.5V Vth的
V
OL
*
0.2 V
0
1
Z
Z
1.5 V
V
OH
*
0.2 V
Z
1
0V Vth的
V
OL
*测量V
OL
与我
OH
= -10mA我
OL
= 10毫安
V
OH
*测量V
OH
与我
OH
= -10mA我
OL
= 10毫安
乘
5
08/16/2000–LDS.112-K
LOGIC [ LOGIC DEVICES INCORPORATED ]
