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5962-3826707VNV 参数 Datasheet PDF下载

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型号: 5962-3826707VNV
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内容描述: 微型电路,存储器,数字, CMOS 128K ×8位EEPROM ,单片硅 [MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 128K x 8 BIT EEPROM, MONOLITHIC SILICON]
分类和应用: 存储可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器
文件页数/大小: 40 页 / 315 K
品牌: MAXWELL [ MAXWELL TECHNOLOGIES ]
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4.质量保证条款
4.1取样和检验。对于设备类Q和V,采样和检验程序应按照MIL-
PRF- 38535或修改设备制造商的质量管理( QM )计划。在质量管理计划的修改不得
如本文中所描述的影响的形式,尺寸或功能。对于设备类男,抽样和检验程序应按照
符合MIL -PRF- 38535 ,附录A.
4.2筛选。对于设备类Q和V,筛选应符合MIL -PRF- 38535 ,并应进行对
所有设备之前,资历和技术一致性检验。对于设备类男,筛选应符合
方法5004 MIL- STD-883标准,并应事先以质量一致性检验所有设备进行。
4.2.1设备类M.附加条件
a.
b.
通过中期(伤后入)电气删除指定为初始(预燃式)电气参数的顺序
方法5004和替代线路1至6台IIA此参数。
之前烧机,该装置应被编程(见4.5.2本文)与棋盘图案或等效
(制造商在他们的选择可以采用等效模式提供的是一种拓扑真正的交替位模式) 。
该模式将之前和老化后读取。设备有位不处于正常状态后,老化应构成
设备故障,并应包含在PDA计算并从大量被删除。
测试电路应由制造商的文档修订级别控制下保持并应提供
根据请求的准备或收购活动。测试电路应指定输入,输出,偏见和电源
耗散,如适用,根据在测试方法1015指定的意图。
(1)
d.
e.
动态老化测试(方法MIL- STD-883标准,测试条件的D 1015 ;对于电路,见4.2.1c此处) 。
c.
中期和最终的电气参数应符合表IIA本文规定。
在完成所有筛选后,装置应被删除并在交付之前进行验证。
4.2.2设备类Q和V.附加条件
a.
在老化测试期间,测试条件与测试温度,或批准的方案应在设备中被指定
符合MIL -PRF- 38535制造商的质量管理计划。烧机测试电路应保持在文件
设备制造商的技术评审委员会( TRB )的符合MIL -PRF- 38535的修订级别控制
并应提供给要求收购或准备的活动。测试电路应指定输入,
输出的偏差,并耗散功率,如适用,按照MIL-的测试方法1015中指定的目的
STD-883.
中期和最终电气测试参数应符合表IIA本文规定。
其他筛查设备类V超越了设备类Q的要求应符合附录B规定
MIL-PRF-38535.
b.
c.
4.3资格检验设备类Q和V.资质检验设备类Q和V应
符合MIL -PRF- 38535 。要对组进行检查,应在MIL -PRF- 38535的规定,并在此
A, B,C , D和E的检查(见4.4.1至4.4.4 ) 。
4.4符合性检查。技术一致性检验类Q和V应符合MIL- PRF-
38535组,包括A,B ,C , D和E的检查和本文规定。质量一致性检验设备类
米,则符合MIL -PRF- 38535 ,附录A和本文中所规定的。要为设备类进行检查
米,则在MIL -STD- 883方法5005 ,并在此为组A,B , C,D的规定,和E的检查(见4.4.1通过
4.4.4).
SIZE
标准
微电路图纸
哥伦布国防供应中心
美国俄亥俄州哥伦布市43216-5000
DSCC FORM 2234
APR 97
A
修订级别
G
5962-38267
7