D A T A
中文ê (E T)
AC特性
只读操作
参数
JEDEC
标准。
描述
测试设置
速度选项
90
民
90
100
100
110
110
110
90
100
110
110
90
100
110
110
25
25
25
25
20
20
0
0
10
35
25
35
30
35
110
单位
t
AVAV
t
RC
读周期时间
V
IO
= V
CC
= 3 V
V
IO
= 1.8 V, V
CC
= 3 V
V
IO
= V
CC
= 3 V
V
IO
= 1.8 V, V
CC
= 3 V
V
IO
= V
CC
= 3 V
V
IO
= 1.8 V, V
CC
= 3 V
ns
t
AVQV
t
加
地址输出延迟
最大
ns
t
ELQV
t
CE
t
PACC
芯片使能到输出延迟
页面访问时间
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z
输出使能到输出高Z
输出保持时间从地址, CE #或
OE # ,先到为准
输出使能保持时间
读
切换和
数据#投票
读
最大
最大
最大
最大
最大
民
民
民
民
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
t
OEH
t
CEH
芯片使能保持时间
注意事项:
1.
2.
3.
4.
5.
6.
未经100%测试。
CE # , OE # = V
IL
OE # = V
IL
SEE
和
测试规范。
除非另有说明,交流电源规格为90纳秒, 100纳秒和110纳秒的速度选项采用V测试
IO
= V
CC
= 3 V AC规格
为110 ns的速度选择与V测试
IO
= 1.8 V和V
CC
= 3.0 V.
90纳秒的速度选项仅适用于S29GL128N和S29GL256N 。
2006年S29GL - N_00_B3 10月13日,
S29GL -N的MirrorBit ™闪存系列
77