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品牌:Texas Instruments
描述:IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
详细描述:Circuit Board Testing Interface 64-LQFP (10x10)
制造商:Texas Instruments
系列:SCOPE™,Widebus™
包装:带卷(TR)
零件状态:停產
应用:电路板测试
接口:4 导线测试访问端口(TAP)
电压 - 电源:2.7 V ~ 3.6 V
封装/外壳:64-LQFP
供应商器件封装:64-LQFP(10x10)
安装类型:表面贴装
基本零件编号:74LVTH18502
标准包装:1,000
其它名称:296-22076-2 V62/04729-01XE
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