的ProASIC
PLUS
闪存系列FPGA
TAP控制器接收两个控制输入（ TMS和
TCK ），并生成控制信号和时钟信号的其余部分
测试的逻辑架构。上电时，TAP
控制器进入Test - Logic-Reset状态。为了保证
控制器从任何可能的状态的复位，
TMS必须保持较高的五个TCK周期。 TRST管脚
也可以使用异步放置在TAP
控制器处于Test- Logic-Reset状态。
的ProASIC
PLUS
设备支持三种类型的测试数据
寄存器：旁路，设备标识，以及边界
扫描。旁路寄存器被选择在没有其他
寄存器需要在一个设备访问。这将加快
测试数据传送到其他设备的试验数据的路径。
32位设备识别寄存器是一个移位寄存器
有四个字段（最低显著字节（ LSB ） ，身份证号码，
部件号和版本） 。边界扫描寄存器
观察和控制每个I / O引脚的状态。
每个I / O单元有三个边界扫描寄存器单元，每个
具有串行输入，串行输出的，平行的，并且并行输出
引脚。串行引脚用于串行连接所有
边界扫描寄存器单元在一个设备插入boundary-
扫描寄存器链，这开始于TDI引脚和结束
在TDO引脚。的并行端口连接到
内部核心逻辑瓦和输入，输出和控制
一个I / O缓冲器的端口来捕获和数据装入到
寄存器来控制或观察每个I / O的逻辑状态。
1
TEST- LOGIC
RESET
0
运行测试/
空闲
1
选择- DR-
扫描
0
1
捕捉-DR
0
0
1
选择- IR-
扫描
0
1
捕获红外
0
按住Shift -IR
1
1
0
退出-IR
0
暂停-IR
1
0
Exit2-IR
1
更新IR
0
1
1
0
1
0
按住Shift -DR
1
退出-DR
0
0
暂停-DR
1
0
Exit2-DR
1
更新DR
0
1
图2-10 •
TAP控制器状态图
v5.9
2-9
ACTEL [ Actel Corporation ]
