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    ACT-SF128K16N-39P7M 参数 Datasheet PDF下载

    ACT-SF128K16N-39P7M图片预览
    型号： ACT-SF128K16N-39P7M
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： ACT- SF128K16高速128Kx16 SRAM /闪存多芯片模块 [ACT-SF128K16 High Speed 128Kx16 SRAM/FLASH Multichip Module]
    分类和应用： 闪存静态存储器
    文件页数/大小： 11 页 / 171 K
    品牌： AEROFLEX [ AEROFLEX CIRCUIT TECHNOLOGY ]
     浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第1页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第2页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第3页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第5页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第6页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第7页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第8页浏览型号ACT-SF128K16N-39P7M的Datasheet PDF文件第9页  
    时序图 - SRAM
    读周期时序图
    读周期1 （ SCE = OE = V
    IL
    ， SWE = V
    IH
    )
    t
    RC
    A
    0-18
    t
    AA
    t
    OH
    D
    I / O
    以前的数据有效
    数据有效
    SCE
    t
    AS
    SWE
    S
    EE
    N
    OTE
    写周期时序图
    写周期（ SWE控制， OE = V
    IH
    )
    t
    WC
    A
    0-18
    t
    AW
    t
    CW
    t
    AH
    t
    WP
    t
    WHZ
    t
    DW
    数据有效
    t
    DW
    t
    DH
    D
    I / O
    读周期2 （ SWE = V
    IH
    )
    t
    RC
    A
    0-18
    t
    AA
    SCE
    t
    ACE
    t
    CLZ
    S
    EE
    N
    OTE
    写周期（ SCE控制， OE = V
    IH
    )
    t
    WC
    A
    0-18
    t
    AW
    t
    CHZ
    S
    EE
    N
    OTE
    t
    AH
    t
    CW
    t
    AS
    SCE
    OE
    t
    WP
    t
    OE
    t
    OLZ
    S
    EE
    N
    OTE
    t
    OHZ
    S
    EE
    N
    OTE
    SWE
    t
    DW
    D
    I / O
    数据有效
    t
    DH
    D
    I / O
    高Z
    数据有效
    未定义
    不在乎
    注：由设计保证，但未经测试。
    AC测试电路
    电流源
    I
    OL
    AC测试条件
    参数
    典型
    0 – 3.0
    5
    1.5
    单位
    V
    ns
    V
    为了测试设备
    C
    L
    = 50 pF的
    V
    Z
    〜 1.5 V（双极性电源供电）
    输入脉冲电平
    输入兴衰
    输入和输出时序参考电平
    I
    OH
    电流源
    注意事项：
    1) V
    Z
    的可编程范围为-2V至+ 7V 。 2 ）I
    OL
    我
    OH
    可编程从0到16毫安。 3 ）阻抗测试仪
    Z
    O
    = 75Ω.
    4)
    V
    Z
    通常Ⅴ的中点
    OH
    和V
    OL
    . 5) I
    OL
    我
    OH
    被调整，以模拟典型的电阻
    负载电路。 6 ） ATE测试仪包括夹具电容。
    艾法斯电路技术
    4
    SCD1677 REV A 98年4月28日纽约州Plainview的（ 516 ） 694-6700

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