欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
会员中心
企业资讯   人才招聘  
电子百科

电子百科

Datasheet下载 IC品牌 缩略语 技术文章 IC型号

产品导航

ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ0123456789
PDF
  • 产品
  • PDF

    • 最近搜索

    热门搜索

    搜索
    发布采购

    PC28F256P30BFA 参数 Datasheet PDF下载

    PC28F256P30BFA图片预览
    型号： PC28F256P30BFA
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： 美光并行NOR闪存的嵌入式存储器（ P30-65nm ） [Micron Parallel NOR Flash Embedded Memory (P30-65nm)]
    分类和应用： 闪存存储内存集成电路
    文件页数/大小： 98 页 / 1366 K
    品牌： MICRON [ MICRON TECHNOLOGY ]
     浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第78页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第79页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第80页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第81页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第83页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第84页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第85页浏览型号PC28F256P30BFA的Datasheet PDF文件第86页  
    256MB和512MB （256 / 256MB ） ， P30-65nm
    AC测试条件和电容
    AC测试条件和电容
    图27 ： AC输入/输出时序参考
    V
    CCQ
    输入V
    CCQ
    /2
    0V
    测试点
    V
    CCQ
    / 2输出
    注意：
    1. AC测试输入在V驱动
    CCQ
    为逻辑1，在0V为逻辑0输入/输出时序
    开始/结束在V
    CCQ
    / 2 。输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％） <5ns 。最坏情况下的速度OC-
    小人在V
    CC
    = V
    CC
    （最小值） 。
    图28 ：瞬态等效负载电路
    设备下
    TEST
    C
    L
    注意事项：
    OUT
    1.请参阅测试配置为最差情况下的速度条件下表中的元件值。
    2，CL包括夹具电容。
    表42 ：测试配置：最坏情况下的转速条件
    测试配置
    V
    CCQ
    （ MIN）的标准测试
    C
    L
    （PF ）
    30
    图29 ：时钟输入AC波形
    t
    CLK
    CLK
    V
    IH
    V
    IL
    t
    CH / CL
    t
    FCLK / RCLK
    PDF ： 09005aef84566799
    p30_65nm_MLC_256Mb - 512mb.pdf - 版本C 12/13 EN
    82
    美光科技公司保留更改产品或规格，恕不另行通知。
    ©
    2013美光科技公司保留所有权利。

    IC37:专业IC行业平台

    专业IC领域供求交易平台:提供全面的IC Datasheet资料和资讯，Datasheet 1000万数据，IC品牌1000多家。

    网站导航 Datasheet资料库 电子术语 电子百科
    服务中心 常见问题 委托交易 会员服务
    关于我们 公司简介 联系我们 免责申明

    产品索引：ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ0123456789

    深圳网络警察报警平台 公共信息安全网络监察 经营性网站备案信息 不良信息举报中心 工商网监电子标识 全国公安机关备案
    服务电话： 0755-32882616 0755-32882606 0755-32882608 0755-32882607 值班和投诉电话：13715251531 ©2004-2024 IC37网 版权所有：ic37.com 版权申明 公网安备44030402000606 粤ICP备13051289号-6