Multilayer and Thick FilmChip Inductors
SOLDERING CONDITIONS／はんだ付け条件
Recommended Pattern
はんだ付け推奨パターン
b
a
b
c
積層・厚膜チップインダクタ
a
b
c
LL2012 series
Flow soldering Reflow soldering
1.0~1.4
1.0~1.2
0.8~1.2
0.6~1.0
0.8~1.0
0.8~1.2
Pattern dimensions (unit; mm)
LL1608 series
LL1005 & LLP1005 series
Flow soldering Reflow soldering
Reflow soldering
0.8~1.0
0.7
0.4
0.8~1.0
0.6~0.8
0.4~0.5
0.6~0.8
0.6~0.8
0.45~0.55
LLV0603 series
Reflow soldering
0.25
0.18~0.22
0.30~0.35
•
Conditions for soldering temperatures are determined as per figures below after prior confirmation that abnormalities are not
evident.
•
はんだ付け温度条件は下図を基準とし事前に「異常がない」ことを確認の上、条件を決めて下さい。
Flow Soldering
7s.
230
±
5°C
240°C
20s.
225°C
140~170°C
80
±
20°C
2min.
80s.
2min.
150
±
10°C
2min.
Reflow Soldering
Soldering Iron
2s.
250
±
10°C
Solder iron power
はんだこて容量：
18W
ELECTRICAL CHARACTERISTICS TEST METHOD／電気的特性測定方法
1. INDUCTANCE, Q
•
Test equipment
•
Impedance analyzer:
4291A/B(Agilent):LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL,
LLP1005-FH, LLV0603-FB, LLV0603-F,
•
Test fixture: 16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
•
Test method
•
Set measuring frequency read inductance and Q value.
2. RDC (DC Resistance)
•
Test equipment
•
4338A/B(Agilent) or equivalent
•
Test method
(1) Place the sample in the test terminals.
(2)
Do not place in or pull out the sample while pushing SW.
1. インダクタンス、 Q
•
�½�用機器および治具
•
測定器：4291A/B(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL, LLP1005-FH,
LLV0603-FB, LLV0603-F
•
治 具：16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
•
測定方法
•
測定周波数をセットし、インダクタンス、Qを読み取る。
2. R
DC
(直流抵抗)
•
�½�用機器および治具の回路
•
測定器：4338A/B(Agilent)または相�½�品
•
測定方法
(1) 端子にチップをセットする。
(2) SWを押した状態でチップを出し入れしてはならない。
Test Circuit
DC RESISTANCE
TESTER
測定回路
SW
直流抵抗計
SW
供試
コイル
INDUCTOR
SAMPLE
3. Self resonance frequency (S.R.F.)
•
Test equipment
•
Network Analyzer:
8719D(Agilent):0.5GHz∼13.5GHz
8720D(Agilent):13.6GHz∼20.0GHz
•
Test Method
•
Measure the frequency at which the phase of inductive
reactance and capacitive reactance is 0.
3. S.R.F.(自己共振周波数)
•
�½�用機器
•
測定器：8719D(Agilent):0.5GHz∼13.5GHzの測定に適用
8720D(Agilent):13.6GHz∼20.0GHzの測定に適用
•
測定方法
•
ネットワーク解析によるインピーダンス測定より、誘導性リア
クタンスと容量性リアクタンスの�½�相が0になる周波数を読み
取る。
TOKO [ TOKO, INC ]
