AD8280WASTZ
日期：2021-4-7摘要：北京显易科技有限公司小曹： 010-51987308 ；
QQ:1306610685；企业QQ:800062492
邮箱：bjxianyi-4@163.com 网址: www.ic158.com
北京显易科技有限公司小曹： 010-51987308 ；
QQ:1306610685；企业QQ:800062492
邮箱：bjxianyi-4@163.com 网址: www.ic158.com
大量优势库存
4.4.2.2其他标准设备类Q和V的稳态寿命试验时间，试验条件和试验温度，
或经批准的方案应为符合MIL -PRF- 38535规定的设备制造商的质量管理计划。该
测试电路应保持文档的修订级别控制下的设备制造商的TRB按照
MIL -PRF- 38535和要求应提供给获得或准备的活动。测试电路应规定
输入，输出，偏置和功率耗散（如适用） ，按照在方法1005中指定的目的
MIL-STD-883.
4.4.3 D组的检查。 D组检查端点的电气参数应符合表IIA本文规定。
4.4.4 E组的检查。 E组的检查只需要部分拟被标记为辐射硬度保证
（见本文3.5 ） 。
a.
b.
终点电气参数应符合表IIA本文规定。
对于设备类Q和V，设备或测试车辆应进行辐射硬度保证测试，
在MIL -PRF- 38535的RHA级别指定正在测试中。对于设备类男，设备应进行
抗辐射测试，保证在MIL -PRF- 38535 ，正在测试附录A的RHA级别指定。所有设备
类必须满足的照射后终点电气参数限制在表中定义我在T
A
= +25C
5C,
曝光后，在表ⅡA族本文中指定的子组。
4.4.4.1总剂量辐照试验。总剂量辐照试验应符合MIL -STD- 883进行
方法1019 ，条件A的设备类型02 ，对于设备类型03条件D ，和本文规定。
5.包装
5.1包装要求。对包装的要求也应符合MIL -PRF- 38535的设备类
Q和V或MIL- PRF- 38535 ，附录A设备类M.
6.注意事项
6.1预期用途。微电路符合该图是意欲用于政府微电路应用
（原始设备） ，设计应用，物流的目的。
6.1.1可替换性。包括在本图中的微电路将取代包括由承包商相同的通用设备
准备规格或图纸。
6.1.2可替代性。设备类Q设备将取代设备类M器件。
6.2配置控制SMD年代。所有建议修改现有SMD的将记录为用户进行协调
个人文档。这种协调将采用DD表格1692 ，工程更改建议来完成。
6.3记录的用户。军事和工业用户应告知DLA陆地和海上时系统的应用需要
配置控制以及SMD的适用于该系统。 DLA陆地和海上将保持用户的记录，
该列表将用于更改附图的协调和分配。图纸涵盖微电子的用户
设备（ FSC 5962 ）应与DLA陆地和海上-VA ，电话（ 614 ） 692-0544 。
6.4评论。这个图纸上的意见应直接向DLA陆地和海上-VA ，哥伦布，俄亥俄州43218-3990 ，
或致电（ 614 ） 692-0540 。
6.5缩写，符号和定义。缩写，符号和本文所用的定义中所定义
MIL -PRF- 38535和MIL -HDBK- 1331 。