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SN74BCT8240ADWR产品参数

品牌:Texas Instruments

描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

详细描述:Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC

制造商:Texas Instruments

系列:74BCT

包装:带卷(TR)

零件状态:停產

逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器

电源电压:4.5 V ~ 5.5 V

位数:8

工作温度:0°C ~ 70°C

安装类型:表面贴装

封装/外壳:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

供应商器件封装:24-SOIC

基本零件编号:74BCT8240

标准包装:2,000

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