测试项目

电磁兼容测试按其测试内容可分为EMS测试和EMI发射测试。通过EMS测试和EMI测试，可以定量地了解被测设备对外界电磁骚扰的抵抗能力以及自身向外界产生的电磁骚扰。

EMI测试包括辐射发射测试和传导发射测试。EMS测试项目主要包括静电抗扰度、射频场感应的传导抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌抗扰度、射频场辐射抗扰度、谐波抗扰度、工频磁场抗扰度、脉冲磁场抗扰度、电压变化抗扰度等。为了使测试结果具有可比性和可重复性，上述这些测试项目都有具体的国际标准及国家标准。例如，我国的抗扰度测试标准为GB/T17626系列（等同采用IEC61000-4系列），针对信息技术设备发射限值及测试方法的标准为GB9254（等同采用CISPR22）。

在传导或辐射发射测试过程中，如果CY7B99105SI.html" target="_blank" title="CY7B99105SI">CY7B99105SI所测结果超过了标准规定的限值，则判定EUT的传导或辐射发射超标。在抗扰度测试过程中，试验结果按EUT的功能丧失或性能降级进行分类。这些分类与制造商、试验申请者规定韵，或者制造商与用户之间商定的性能等级有关。推荐的分类如下：

(1)在制造厂或客户规定的技术规范限值内性能正常。

(2)功能暂时丧失或性能降低，但在骚扰停止后EUT能自行恢复，无需操作者干预。

(3)功能暂时丧失或性能降低，需操作者干预才能恢复正常。

(4)因硬件或软件损坏、数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能降低。

注意：制造商提出的技术规范中可以规定对EUT的影响哪些可以忽略，哪些可以接受。

设备总是通过特定的端口与外界电磁环境发生联系，这些端口为设备的电源端口、信号线及控制线端口、地线端口和外壳（机箱）端口。根据实际隋况，标准中都规定了测试所针对的端口。例如，静电抗扰度测试只是针对设备的机箱端口，浪涌抗扰度测试通常针对设备的电源端口及信号端口。