自动测试系统基本结构

自动化测试通过计算机编程取代人工劳动来完成测试序列。从部分自动化到自动化测试，体现了自动测试系统(ATS)和自动测试设备(ATE)技术是一个不断发展的概念。发展动力来自产业规模发展需求的牵引和科学技术进步的推动。一方面是与电子相关的工程项目研发和生产的规模越来越大，生产效率要求越来越高，IC、PCB等电子产品的研究和开发过程中要求测试的项目和内容也日趋复杂，而且测量的精度和速度要求不断提高。靠人工和简单功能的仪器已不能胜任高速、高效率的测试任务。另一方面，计算机技术、实时采样技术、频率合成技术的发展和成熟，给自动测试技术奠定了基础，检测技术、传感器技术、数据传输和处理技术以及大规模集成电路技术的发展，尤其是单片计算机技术和计算机科学的飞速发展，为测试技术的自动化提供了必要的技术祭件和手段。

自动测试系统是指在计算机控制下，能自动进行CD74FCT162543ATMT96.html" target="_blank" title="CD74FCT162543ATMT96">CD74FCT162543ATMT96各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示或输出测试结果的系统。自动测试系统通常由三个主要部分组成：自动测试设备(AutomaticTestEquipment，ATE)，测试程序集(TestProgramSet，TPS)和相应的测试运行环境(TestEnvironment，TE)。

自动测试设备(ATE)由测试硬件及其操作系统软件组成，硬件包括测试仪器、控制测试设备和支持TPS运行的主控计算机、转换开关、通信总线，接收器，夹具、定位装置、外设等。硬件通常为商用现成设备，计算机是ATE的核心，用于控制测试仪器的运行。

ATE的软件操作系统实现设备内部的管理，如自测试和自校准，测试过程排序，并存储和检索相应的技术手册内容。测试程序集(TPS)与被测对象(UUT)及其测试要求密切相关。典型的测试程序集由UUT诊断程序、连接ATE和UUT的测试夹具、引导测试操作和TPS执行文档组成。ATE的计算机执行测试软件，控制其中的激励设备、测量仪器、电源及开关组件等，在测试节点加入激励信号并测量响应信号，然后由测试软件分析测量结果并确定可能的故障及位置。测试环境则包括ATS结构说明、测试编程语言、开发测试软件工具、UUT设计需求的标准描述格式和测试方案信息等。

自动测试系统通常是针对一定的应用领域和被测对象，并按应用对象而命名的。既可用于在线测试也可用于功能测试的综合型自动测试系统在lC、PCB生产线得到越来越广泛的应用。