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    PC28F256P30TFE 参数 Datasheet PDF下载

    PC28F256P30TFE图片预览
    型号： PC28F256P30TFE
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： 256MB和512MB （256 / 256MB ） ， P30-65nm [256Mb and 512Mb (256Mb/256Mb), P30-65nm]
    分类和应用： 闪存内存集成电路
    文件页数/大小： 95 页 / 1351 K
    品牌： MICRON [ MICRON TECHNOLOGY ]
     浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第76页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第77页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第78页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第79页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第81页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第82页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第83页浏览型号PC28F256P30TFE的Datasheet PDF文件第84页  
    256MB和512MB （256 / 256MB ） ， P30-65nm
    AC测试条件
    AC测试条件
    图27 ： AC输入/输出时序参考
    V
    CCQ
    输入V
    CCQ
    /2
    0V
    测试点
    V
    CCQ
    / 2输出
    注意：
    1. AC测试输入在V驱动
    CCQ
    对于逻辑"1"和0 V的逻辑"0".输入/输出时序
    ING开始/结束在V
    CCQ
    / 2 。输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ） < 5纳秒。最坏的情况下
    速度出现在V
    CC
    = V
    CCmin
    .
    图28 ：瞬态等效负载电路
    设备下
    TEST
    C
    L
    注意事项：
    OUT
    1.请参阅测试配置组件值在最坏情况的速度条件下表
    元件值。
    2，CL包括夹具电容。
    表43 ：测试配置：最差情况下的转速条件
    测试配置
    V
    CCQ
    闵标准测试
    C
    L
    （PF ）
    30
    图29 ：时钟输入AC波形
    t
    CLK
    CLK
    V
    IH
    V
    IL
    t
    CH / CL
    t
    FCLK / RCLK
    PDF ： 09005aef84566799
    p30_65nm_256Mb - 512mb.pdf - 版本A 1/13 EN
    80
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