CY62256N
最大额定值
超出最大额定值可能损害的使用寿命
装置。这些用户指导未经测试。
存储温度-65 ................................
C
+150
C
环境温度与
电源采用........................................... -55
C
+125
C
电源电压对地电位
（引脚28至引脚14 ） ........................................... -0.5 V至7.0 V
直流电压应用到输出的
在高Z状态
.................................. -0.5 V到V
CC
+ 0.5 V
直流输入电压
............................... -0.5 V到V
CC
+ 0.5 V
输出电流转换成输出（ LOW ） .............................. 20毫安
静电放电电压.......................................... > 2001年V
（每MIL -STD -883方法3015 ）
闩锁电流............................................... ...... > 200毫安
工作范围
范围
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产业
汽车-A
汽车-E
环境温度（T
A
)
0
C至+70
C
–40
C至+ 85
C
–40
C至+ 85
C
–40
C至+ 125
C
V
CC
5 V
10%
5 V
10%
5 V
10%
5 V
10%
电气特性
在整个工作范围
参数
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
IX
I
OZ
I
CC
描述
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
输入漏电流
输出漏电流
V
CC
工作电源
当前
GND < V
I
＆ LT ; V
CC
GND < V
O
＆ LT ; V
CC
，输出禁用
V
CC
=最大，
I
OUT
= 0 mA时，
f = f
最大
= 1/t
RC
LL-商用
LL - 工业
LL - 自动-A
LL - 自动-E
I
SB1
自动CE
掉电电流 -
TTL输入
最大。 V
CC
， CE＆ GT ; V
IH
， LL-商用
V
IN
＆ GT ; V
IH
或V
IN
＆ LT ; V
IL
， LL - 工业
f = f
最大
LL - 自动-A
LL - 自动-E
I
SB2
自动CE
掉电电流 -
CMOS输入
最大。 V
CC
,
LL-商用
CE > V
CC
0.3 V
LL - 工业
V
IN
＆ GT ; V
CC
0.3 V或
LL - 自动-A
V
IN
< 0.3 V ， F = 0
LL - 自动-E
测试条件
V
CC
=最小，我
OH
=
1.0
mA
V
CC
=最小，我
OL
= 2.1毫安
–55
民
2.4
–
2.2
–0.5
–0.5
–0.5
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
典型值
–
–
–
–
–
–
–
25
25
25
–
0.3
0.3
0.3
–
0.1
0.1
0.1
最大
–
0.4
V
CC
+
0.5 V
0.8
+0.5
+0.5
–
50
50
50
–
0.5
0.5
0.5
–
10
10
15
民
2.4
–
2.2
–0.5
–0.5
–0.5
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–70
典型值
–
–
–
–
–
–
25
25
25
–
0.3
0.3
0.3
–
0.1
0.1
0.1
–
最大
–
0.4
V
CC
+
0.5 V
0.8
+0.5
+0.5
50
50
50
–
0.5
0.5
0.5
–
5
10
10
–
单位
V
V
V
V
A
A
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
A
A
A
A
电容
参数
C
IN
C
OUT
描述
输入电容
输出电容
测试条件
T
A
= 25
C,
F = 1MHz时， V
CC
= 5.0 V
最大
6
8
单位
pF
pF
笔记
3. V
IL
（分钟） =
2.0V，对于小于20纳秒的脉冲持续时间。
4. T
A
是“瞬捷”外壳温度。
5.典型规格测量范围遍及正常生产工艺变化的大样本量的平均值，并采取在额定条件
(T
A
= 25 ° C，V
CC
） 。参数通过设计和特性保证，而不是100 ％测试。
6.测试开始后任何设计或工艺变化，可能会影响这些参数。
文件编号： 001-06511修订版* D
第14页4
CYPRESS [ CYPRESS SEMICONDUCTOR ]
