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WCSN0436V1P-100AI 参数 Datasheet PDF下载

WCSN0436V1P-100AI图片预览
型号: WCSN0436V1P-100AI
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内容描述: 128Kx36流水线SRAM与NOBL TM架构 [128Kx36 Pipelined SRAM with NoBL TM Architecture]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 14 页 / 285 K
品牌: WEIDA [ WEIDA SEMICONDUCTOR, INC. ]
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WCSN0436V1P
电气特性
在整个工作范围
TER
V
DD
V
DDQ
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
X
描述
电源电压
I / O电源电压
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
[9]
输入负载电流
输入电流
模式
I
OZ
I
CC
输出漏
当前
V
DD
操作
供应
GND
V
I
V
DDQ ,
输出禁用
V
DD
=最大,我
OUT
= 0 mA时,
f = f
最大
= 1/t
CYC
5.0 ns的周期,频率为166 MHz
6.6 ns的周期, 150 MHz的
7.0 ns的周期, 143兆赫
7.5 ns的周期, 133 MHz的
10.0 ns的周期, 100兆赫
12.5 ns的周期, 80兆赫
I
SB1
自动CE
掉电
目前-TTL输入
最大。 V
DD
,设备选中,
V
IN
V
IH
或V
IN
V
IL
f = f
最大
= 1/t
CYC
5.0 ns的周期,频率为166 MHz
6.6 ns的周期, 150 MHz的
7.0 ns的周期, 143兆赫
7.5 ns的周期, 133 MHz的
10.0 ns的周期, 100兆赫
12.5 ns的周期, 80兆赫
I
SB2
自动CE
掉电
目前, CMOS
输入
自动CE
掉电
目前, CMOS
输入
最大。 V
DD
,设备选中,
V
IN
0.3V或V
IN
& GT ;
V
DDQ
- 0.3V , F = 0
最大。 V
DD
,设备选中,或
V
IN
0.3V或V
IN
& GT ; V
DDQ
– 0.3V
f = f
最大
= 1/t
CYC
所有速度等级
GND
V
I
V
DDQ
V
DD
=最小值,我
OH
= -4.0毫安
[11]
V
DD
=最小值,我
OL
= 8.0毫安
[11]
2.0
−0.3
−5
−30
−5
测试条件
分钟。
3.135
3.135
2.4
0.4
V
DD
+
0.3V
0.8
5
30
5
400
375
350
300
250
200
80
70
60
50
40
35
5
马克斯。
3.465
3.465
单位
V
V
V
V
V
V
µA
µA
µA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
mA
I
SB3
5.0 ns的周期,频率为166 MHz
6.6 ns的周期, 150 MHz的
7.0 ns的周期, 143兆赫
7.5 ns的周期, 133 MHz的
10.0 ns的周期, 100兆赫
12.5 ns的周期, 80兆赫
70
60
50
40
30
25
mA
mA
mA
mA
mA
mA
注意:
11.用于V负载
OH
和V
OL
测试示出在交流测试负载的图( b)所示。
文件编号: 38-05246牧师**
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