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BS616UV4016EIG10 参数 Datasheet PDF下载

BS616UV4016EIG10图片预览
型号: BS616UV4016EIG10
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内容描述: 超低功耗CMOS SRAM 256K ×16位 [Ultra Low Power CMOS SRAM 256K X 16 bit]
分类和应用: 存储内存集成电路静态存储器光电二极管
文件页数/大小: 11 页 / 207 K
品牌: BSI [ BRILLIANCE SEMICONDUCTOR ]
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BS616UV4016
n
数据保持特性(T
A
= -40°C至+ 85°C )
符号
V
DR
I
CCDR
(3)
O
O
参数
V
CC
数据保留
测试条件
CE = V
CC
-0.2V
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
CE = V
CC
-0.2V
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
分钟。
1.5
典型值。
(1)
--
马克斯。
--
单位
V
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
--
0.1
1.5
uA
t
CDR
t
R
0
见保留波形
t
RC (2)
--
--
ns
手术恢复时间
--
--
ns
1. V
CC
= 1.5V ,T
A
=25
O
C和不是100 %测试。
2. t
RC
=读周期时间。
3. I
CCDR ( MAX 。 )
为1.0uA在T
A
=70
O
C.
n
低V
CC
数据保存波形( CE控制)
数据保持方式
V
DR
≧1.5V
V
CC
V
IH
V
CC
V
CC
t
CDR
CE = V
CC
- 0.2V
t
R
V
IH
CE
n
AC测试条件
(测试负载和输入/输出参考)
n
关键开关波形
波形
输入
必须是
稳定
可能改变
“H”
TO
“L”
可能改变
“L”
TO
“H”
不在乎
任何改变
许可
申请
输出
必须是
稳定
将改变
“H”
TO
“L”
将改变
“L”
TO
“H”
变化:
州UNKNOW
中心线
高Inpedance
“关”的
状态
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
参考电平
输出负载
t
CLZ
, t
OLZ
, t
CHZ
, t
OHZ
, t
WHZ
OTHERS
VCC / 0V
1V/ns
0.5Vcc
C
L
= 5pF的+ 1TTL
C
L
= 30pF的+ 1TTL
所有的输入脉冲
1 TTL
产量
C
L(1)
V
CC
GND
10%
90%
90%
10%
→ ←
上升时间:
1V/ns
→ ←
下降时间:
1V/ns
1.包括夹具和范围电容。
R0201-BS616UV4016
4
修订版1.6
五月。
2006